[发明专利]一种超导磁悬浮装置温度检测系统及方法有效

专利信息
申请号: 202010575681.X 申请日: 2020-06-22
公开(公告)号: CN111811682B 公开(公告)日: 2021-12-07
发明(设计)人: 郑珺;温鹏;刘晓宁;陈楠;陈凌;邓自刚 申请(专利权)人: 西南交通大学
主分类号: G01K11/32 分类号: G01K11/32;G01K11/3206
代理公司: 北京集智东方知识产权代理有限公司 11578 代理人: 陈亚斌;关兆辉
地址: 610031 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 超导 磁悬浮 装置 温度 检测 系统 方法
【权利要求书】:

1.一种超导磁悬浮装置温度检测系统,其特征在于,包括

超导块材(3),所述超导块材(3)包括多个超导体,分别是依次设置的第一超导体、第二超导体、第三超导体、第四超导体和第五超导体,设置于中心的第三超导体的高度大于其两边的超导体的高度;

第一堆叠超导带材(40),所述第一堆叠超导带材(40)设置在所述超导块材(3)的底部,所述第一堆叠超导带材(40)的顶部与所述超导块材(3)的底部接触,所述第一堆叠超导带材(40)设置于永磁轨道(6)上方;

光纤传感器(5),所述光纤传感器(5)设置在所述超导块材(3)与第一堆叠超导带材(40)接触的层间以及第一堆叠超导带材(40)各层之间的位置,所述光纤传感器(5)与调解仪(2)电连接,接收调解仪(2)发出的光信号,并向调解仪(2)传送瑞利背向散射光(7);以及

调解仪(2),所述调解仪(2)提供光信号,接收并处理所述光纤传感器(5)产生的瑞利背向散射光(7);

所述超导块材(3)顶部包括第二堆叠超导带材(41)和第三堆叠超导带材(42),所述第二堆叠超导带材(41)设置在所述第一超导体和第二超导体上方,所述第三堆叠超导带材(42)设置在第四超导体和第五超导体上方,所述第二堆叠超导带材(41)和所述第三堆叠超导带材(42)的顶部与第三超导体的顶部在同一水平面。

2.根据权利要求1所述的一种超导磁悬浮装置温度检测系统,其特征在于:所述超导块材(3)与其底部的第一堆叠超导带材(40)固定连接。

3.根据权利要求1所述的一种超导磁悬浮装置温度检测系统,其特征在于:所述第一堆叠超导带材(40)为片状,所述光纤传感器(5)为光纤分布式温度传感器。

4.根据权利要求1所述的一种超导磁悬浮装置温度检测系统,其特征在于:所述第一堆叠超导带材(40)设置有多层,所述第一堆叠超导带材(40)的各层之间均设置有多列所述光纤传感器(5)。

5.一种利用如权利要求1-4中任意一项所述超导磁悬浮装置温度检测系统进行温度检测的方法,其特征在于,包括:

在超导块材(3)底部设置第一堆叠超导带材(40),将光纤传感器(5)设置在超导块材(3)与第一堆叠超导带材(40)接触的层间以及第一堆叠超导带材(40)各层之间的位置;

将所述光纤传感器(5)与所述调解仪(2)电连接,所述调解仪(2)对所述光纤传感器(5)进行首次测量并储存瑞利背向散射信号,记为基准信号;

当所述第一堆叠超导带材(40)温度变化时,所述光纤传感器(5)中散射光光谱漂移,所述调解仪(2)内的探测器收集瑞利背向散射光(7),记为测量信号;

对测量信号光谱频率和基准信号光谱频率数据进行处理,得到光谱漂移,通过光谱漂移计算得到温度变化值。

6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述对测量信号光谱频率和基准信号光谱频率数据进行处理包括:

所述调解仪(2)分别获得基准信号光谱频率和测量信号光谱频率;

通过以下公式计算得到光谱漂移Δv的数值:

(1)

公式(1)中,Uj(v)表示基准信号光谱,Uj(v-Δvj)表示测量信号光谱,“*”表示交叉相关算子。

7.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:

所述调解仪(2)分别获得基准信号和测量信号两者的平均波长和频率;

通过以下公式计算得到温度变化值:

(2)

公式(2)中,λ表示平均波长,v表示光波频率,Δv表示光谱漂移;测量温度时,不考虑应变因素对光谱响应的影响,此时ε≈0;KT和Kε为温度和应变校准常数。

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