[发明专利]一种利用反向特性测试肖特基二极管热阻的方法

权利要求书

1.一种利用反向特性测试肖特基二极管热阻的方法，其特征在于：包括如下步骤：

步骤1：肖特基二极管的热敏校正曲线测试：

采用肖特基二极管的反向电流I_R作为热敏参数来表征肖特基二极管的结温T_j，肖特基二极管的热敏校正曲线方程为：

上式中，I_R0、T₀皆为常数，I_R0、T₀通过下列表达式计算获得：

T₀＝(T_j2-T_j1)/ln(I_R2/I_R1) (公式2)

或

将肖特基二极管放入烘箱中，设定烘箱温度为T_j1，达到热平衡后向肖特基二极管施加反向脉冲测试电压V_R，获取V_R下的反向电流I_R1；同理，设定烘箱温度为T_j2，达到热平衡后向肖特基二极管施加反向脉冲测试电压V_R，获取V_R下的反向电流I_R2；根据公式2计算出T₀，再根据公式3或公式4计算出I_R0；将计算获得的I_R0、T₀代入公式1绘制热敏校正曲线；

步骤2：对肖特基二极管施加稳态偏置电压条件下的反向电流I_RB测试：

将肖特基二极管放入烘箱中，设定烘箱温度为T_a，对肖特基二极管施加直流反向偏置电压V_RB；待烘箱温度稳定且读取到的反向电流I_RB值保持稳定后，记录此时的烘箱温度T_a、直流反向偏置电压V_RB、以及反向电流I_RB；

步骤3：肖特基二极管热阻R_ja计算：

将反向电流I_RB代入公式1中计算出此时的结温T_j；再依据反向功耗表达式P_R＝I_RB×V_RB计算出肖特基二极管在稳态反向偏置电压下的功耗P_R；最后根据公式R_ja＝(T_j-T_a)/P_R计算出热阻值R_ja。

2.根据权利要求1所述的一种利用反向特性测试肖特基二极管热阻的方法，其特征在于：所述步骤1中，施加的反向脉冲测试电压V_R脉冲宽度小于等于2mS。

3.根据权利要求1所述的一种利用反向特性测试肖特基二极管热阻的方法，其特征在于：所述步骤2中，烘箱温度T_a设定为低于肖特基二极管的额定工作结温20℃。

4.根据权利要求1所述的一种利用反向特性测试肖特基二极管热阻的方法，其特征在于：所述步骤1中的反向脉冲测试电压V_R与步骤2中的直流反向偏置电压V_RB取值相同。

5.根据权利要求4所述的一种利用反向特性测试肖特基二极管热阻的方法，其特征在于：所述反向脉冲测试电压V_R或直流反向偏置电压V_RB取肖特基二极管反向重复峰值电压标称值的80％。