[发明专利]一种图像中目标物体的几何矩的计算方法和计算装置有效
申请号: | 202010554845.0 | 申请日: | 2020-06-17 |
公开(公告)号: | CN111738904B | 公开(公告)日: | 2022-05-17 |
发明(设计)人: | 王振;洪柱;肖志康;邹洋 | 申请(专利权)人: | 武汉工程大学 |
主分类号: | G06T1/20 | 分类号: | G06T1/20;G06T7/246;G06T7/73 |
代理公司: | 北京轻创知识产权代理有限公司 11212 | 代理人: | 陈晓华 |
地址: | 430000 湖北省武*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 图像 目标 物体 几何 计算方法 计算 装置 | ||
1.一种图像中目标物体的几何矩的计算方法,其特征在于,包括以下步骤:
步骤1:按照预设数据流动方向,采用硬件描述语言获取包含目标物体的图像对应的图像数据流;
步骤2:获取图像尺寸和目标物体像素尺寸,按照所述预设数据流动方向,根据所述图像尺寸和所述目标物体像素尺寸对所述图像数据流进行图像遍历,并分别计算所述图像数据流在每次图像遍历时的图像几何矩数据集;
步骤3:根据所述图像数据流在每次图像遍历时的图像几何矩数据集,分别计算得到所述图像数据流在每次图像遍历时的实际几何矩并输出,并从所有实际几何矩中,提取出所述图像数据流中所述目标物体对应的目标几何矩并输出:
步骤31:根据所述图像数据流的每行数据所对应的所有更新像素横向零阶几何矩,得到所述图像数据流在对应的纵向遍历下的更新像素横向零阶几何矩之和;根据所述图像数据流的每行数据所对应的所有更新像素横向一阶几何矩,得到所述图像数据流在对应的纵向遍历下的更新像素横向一阶几何矩之和;根据所述图像数据流的每行数据所对应的所有更新像素横向二阶几何矩,得到所述图像数据流在对应的纵向遍历下的更新像素横向二阶几何矩之和;
步骤32:根据所述图像数据流在每次纵向遍历时的像素纵向一阶几何矩和像素纵向二阶几何矩,以及对应的纵向遍历下的更新像素横向零阶几何矩之和、更新像素横向一阶几何矩之和以及更新像素横向二阶几何矩之和,得到所述图像数据流在每次纵向遍历时的实际几何距并输出;
计算所述图像数据流在第j次纵向遍历时的实际几何距:
其中,Hj为所述图像数据流在第j次纵向遍历时的实际几何距,Aj和Bj分别为计算所述图像数据流在第j次纵向遍历时的实际几何距时第一中间参数和第二中间参数,M10j和M20j分别为第j次纵向遍历时的像素纵向一阶几何矩和像素纵向二阶几何矩,∑M′00j、∑M′01j和∑M′02j分别为第j次纵向遍历时的更新像素横向零阶几何矩之和、更新像素横向一阶几何矩之和以及更新像素横向二阶几何矩之和;
步骤33:从所述图像数据流在所有纵向遍历时的实际几何距中,提取所述目标物体对应的所述目标几何矩并输出。
2.根据权利要求1所述的图像中目标物体的几何矩的计算方法,其特征在于,在所述步骤2中,根据所述图像尺寸和所述目标物体像素尺寸对所述图像数据流进行图像遍历之前包括:
步骤21:根据所述图像尺寸和所述目标物体像素尺寸,得到所述图像数据流对应的单行横向遍历次数和单列纵向遍历次数;
步骤22:根据所述单行横向遍历次数和所述图像尺寸得到图像横向遍历次数,根据所述单行横向遍历次数和所述单列纵向遍历次数,得到图像纵向遍历次数;
在所述步骤21中还包括:
根据所述目标物体像素尺寸,得到横向遍历尺寸和纵向遍历尺寸。
3.根据权利要求2所述的图像中目标物体的几何矩的计算方法,其特征在于,在所述步骤2中,图像遍历包括横向遍历和纵向遍历;图像几何矩数据集包括所述图像数据流在每次横向遍历时的图像宽度几何矩集合再经过对应的纵向遍历后得到的更新图像宽度几何矩集合,以及所述图像数据流在每次纵向遍历时的图像高度几何矩集合;
根据所述图像尺寸和所述目标物体像素尺寸对所述图像数据流进行图像遍历,并分别计算所述图像数据流在每次图像遍历时的图像几何矩数据集具体包括:
步骤23:按照所述预设数据流动方向、所述横向遍历尺寸、所述单行横向遍历次数和所述图像横向遍历次数,对所述图像数据流逐次逐行进行横向遍历,并分别计算所述图像数据流的每行数据在每次横向遍历时的图像宽度几何矩集合,根据每行数据在所有横向遍历下的图像宽度几何矩集合得到每行数据一一对应的图像宽度几何矩总集,将所有图像宽度几何矩总集进行缓存;
步骤24:当所有横向遍历均完成后,按照所述预设数据流动方向、所述纵向遍历尺寸和所述图像纵向遍历次数,对所述图像数据流逐次进行纵向遍历,分别计算每个图像宽度几何矩集合在经过对应的纵向遍历后得到的更新图像宽度几何矩集合,将所有更新图像宽度几何矩集合进行缓存;利用所有图像宽度几何矩总集,分别计算所述图像数据流在每次纵向遍历时的图像高度几何矩集合。
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