[发明专利]一种用于北斗导航芯片的插口测试装置

权利要求书

1.一种用于北斗导航芯片的插口测试装置，其特征在于：包括主体(1)，所述主体(1)左侧上部通过转轴转动连接有转轮(2)，且转轮(2)下部转轴外部设有主动带轮(3)；所述主体(1)上端面中部设有两块矩形支撑件(4)，且两块矩形支撑件(4)之间呈前后对称状设有两根限位滑杆；两块所述矩形支撑件(4)上部通过限位滑杆滑动连接有往复滑动机构(5)，且往复滑动机构(5)与转轮(2)之间通过连杆相连接；所述往复滑动机构(5)上部设有一个夹持机构(6)，所述夹持机构(6)包括支撑块(601)、转动杆(602)、夹块(603)、滑套(604)和限位齿轮(605)，两个所述夹持机构(6)中支撑块(601)的数量均为两个，且两个夹持机构(6)中的两个支撑块(601)分别固定在往复滑动机构(5)上端面和升降板(802)上端面，每前后相邻两个所述支撑块(601)之间均通过轴承转动连接有一根转动杆(602)，且转动杆(602)外部设有两处反向螺纹，所述转动杆(602)外部通过两处反向螺纹连接有两块夹块(603)，且两块夹块(603)相对面均粘贴有防滑胶垫，每块所述夹块(603)下端均设有一个T型滑块，且每块夹块(603)左右两侧均设有一个滑套(604)，每前后相邻两个所述支撑块(601)之间均呈对称状设有与滑套(604)滑动相连接的滑杆，所述转动杆(602)外部前侧还设有限位齿轮(605)，所述转动杆(602)两端均设有手轮，且转动杆(602)外周面前后两侧均呈环形阵列状设有两块矩形转动板；所述往复滑动机构(5)为T型支块结构；所述主体(1)上端面右侧设有前后调节机构(7)，前后调节机构(7)上部设有高度调节机构(8)；所述高度调节机构(8)上也设有一个夹持机构(6)，且两个夹持机构(6)前侧均设有一个防松动机构(9)；所述主体(1)后端面左侧上部设有传动机构(10)，且主体(1)左端面位于通风口处转动连接有清扫机构(11)；所述清扫机构(11)通过传动机构(10)与主动带轮(3)相连接。

2.如权利要求1所述一种用于北斗导航芯片的插口测试装置，其特征在于：所述往复滑动机构(5)包括滑筒(501)、和白色粉末(502)，所述往复滑动机构(5)下部一侧面呈对称状开设有两个通孔，且每个通孔内均安装有一个滑筒(501)，每个所述滑筒(501)内部均开设有环形腔体，且环形腔体内部填充有白色粉末(502)，所述往复滑动机构(5)上端面中部开设有T型滑槽，所述滑筒(501)外周面与环形腔体外周面之间厚度为滑筒(501)的最大磨损厚度。

3.如权利要求1所述一种用于北斗导航芯片的插口测试装置，其特征在于：当左侧一个所述夹持机构(6)与往复滑动机构(5)处于安装状态时，左侧两块夹块(603)下端T型滑块均与往复滑动机构(5)上的T型滑槽滑动相连接。

4.如权利要求1所述一种用于北斗导航芯片的插口测试装置，其特征在于：所述前后调节机构(7)包括矩形支板(701)、螺纹杆(702)和螺母(703)，所述前后调节机构(7)前后两侧通过两根滑杆滑动连接有固定在主体(1)上端面的两块矩形支板(701)，且两块矩形支板(701)之间通过轴承转动连接有螺纹杆(702)，所述螺纹杆(702)外部通过螺纹连接有固定在前后调节机构(7)内部的螺母(703)。

5.如权利要求1所述一种用于北斗导航芯片的插口测试装置，其特征在于：所述高度调节机构(8)包括螺杆(801)、升降板(802)和轴套(803)，所述高度调节机构(8)为倒L型支块结构，且高度调节机构(8)左侧通过轴承转动连接有螺杆(801)，所述螺杆(801)下端转动连接有固定在前后调节机构(7)上端面的轴套(803)，且螺杆(801)外部通过螺纹连接有升降板(802)，所述升降板(802)上端面左侧开设有T型滑槽，且升降板(802)右端面设有两个燕尾滑块，所述高度调节机构(8)下部左侧面开设有与燕尾滑块滑动相连接的燕尾滑槽，当所述高度调节机构(8)与右侧一个夹持机构(6)处于安装状态时，升降板(802)上T型滑槽与右侧两块夹块(603)下端T型滑块滑动相连接。