[发明专利]用于光栅立体显示器的光栅参数测量方法及系统

说明书

本发明实施例提供一种用于光栅立体显示器的光栅参数测量方法及系统，该方法包括：获取待测量的光栅立体显示器的三维显示图像；将所述三维显示图像输入到训练好的光栅参数测量模型中，得到所述待测量的光栅立体显示器的光栅参数值，其中，所述训练好的光栅参数测量模型是由样本三维显示图像，通过DQN算法对两个结构相同的卷积神经网络进行训练得到的。本发明通过使用DQN算法进行光栅参数的匹配，针对不同的光栅显示器，具有普适性，提高了光栅参数测量效率和精度。

技术领域

本发明涉及光栅测量技术领域，尤其涉及一种用于光栅立体显示器的光栅参数测量方法及系统。

背景技术

针对3D显示技术的诸多缺点，目前有一种新型的3D显示技术，自由立体显示(autostereoscopic display)，将柱透镜光栅设置在显示内容和平板显示器之间，根据柱透镜的成像特性，可以在不同位置显示不同内容，从而可以实现空间中的三维显示效果，使得观察者不需要佩戴任何观察仪器就可以直接看见3D图像。自由立体显示器由于其制作过程简单、加工精度高等优点，在自由立体显示技术中得到了广泛应用。

现有的自由立体显示技术，需要结合显示内容和实际光栅的排布方式，将不同视点的图像按照观察方向进行像素重排，从而实现三维立体显示效果。在像素重排的过程中，按照正确的光栅参数进行计算才可以在光栅显示器中正确地显示结果。由于光栅参数在光栅显示器制作过程中就已经确定，因此光栅参数的确定需要手动进行测量。传统的光栅参数测量方法主要是依赖于研究人员的经验，首先估计光栅参数大致的范围，然后使用估计的光栅参数值计算二值蒙版，并显示在光栅显示器中，通过对二值蒙版图像进行判断，进而决定如何对光栅参数进行修改，当显示结果为全白或者全黑图像时，得到准确的光栅参数。然而，现有的光栅参数测量方法对于人力和物力的消耗比较大，导致测量效率较低。

因此，现在亟需一种用于光栅立体显示器的光栅参数测量方法及系统来解决上述问题。

发明内容

针对现有技术存在的问题，本发明实施例提供一种用于光栅立体显示器的光栅参数测量方法及系统。

第一方面，本发明实施例提供了一种用于光栅立体显示器的光栅参数测量方法，包括：

获取待测量的光栅立体显示器的三维显示图像；

将所述三维显示图像输入到训练好的光栅参数测量模型中，得到所述待测量的光栅立体显示器的光栅参数值，其中，所述训练好的光栅参数测量模型是由样本三维显示图像，通过DQN算法对两个结构相同的卷积神经网络进行训练得到的。

进一步地，所述训练好的光栅参数测量模型通过以下步骤得到：

获取样本光栅立体显示器的初始光栅参数值，并对所述样本光栅立体显示器的初始光栅参数值进行二值蒙版映射，得到样本三维显示图像；

将所述样本三维显示图像作为训练样本集，通过DQN算法分别对两个结构相同的卷积神经网络进行训练，得到训练好的光栅参数测量模型。

进一步地，所述将所述样本三维显示图像作为训练样本集，通过DQN算法分别对两个结构相同的卷积神经网络进行训练，得到训练好的光栅参数测量模型，包括：

将所述样本三维显示图像输入到第一卷积神经网络，得到第一动作价值函数，将所述样本三维显示图像输入到第二卷积神经网络中，得到第二动作价值函数；其中，所述第一卷积神经网络作为单步更新参数的预测网络进行训练；所述第二卷积神经网络作为多步更新参数的目标网络，用于监督所述第一卷积神经网络进行学习；所述第一动作价值函数用于对光栅参数值中的线数和倾斜角度进行调整；

根据所述第一动作价值函数和所述第二动作价值函数，获取所述第一卷积神经网络的损失函数，并进行反向传播，以得到训练好的光栅参数测量模型。