[发明专利]利用X射线荧光光谱仪进行氯含量检测的方法在审
| 申请号： | 202010533730.3 | 申请日： | 2020-06-09 |
| 公开（公告）号： | CN113777121A | 公开（公告）日： | 2021-12-10 |
| 发明（设计）人： | 刘小东;滕飞;贾少鹏;谭志勇;吴梅 | 申请（专利权）人： | 北京安科慧生科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223 |
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| 地址： | 101102 北京市通*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 利用 射线 荧光 光谱仪 进行 含量 检测 方法 | ||
1.一种利用X射线荧光光谱仪进行氯含量检测的方法，所述X射线荧光光谱仪使用锗晶体作为次级分光晶体，其特征在于，其包括以下步骤：
步骤1、将样品放置在检测处，检测出样品中氯的荧光强度值及锗晶体产生的荧光强度值，并分别定义为I_Cl及I_Ge；
步骤2、定义样品氯含量值为X_Cl，将I_Cl及I_Ge代入以下公式：X_Cl＝A0*I_Cl+A1*I_Ge+A2*I_Cl*I_Ge+A3中，得出X_Cl，其中A0、A1、A2及A3为预先使用所述X射线荧光光谱仪对多组已知氯含量的标准样品进行检测而确定的具体数值。
2.根据权利要求1所述的利用X射线荧光光谱仪进行氯含量检测的方法，其特征在于：所述样品的硫含量大于0.5％。
3.根据权利要求1所述的利用X射线荧光光谱仪进行氯含量检测的方法，其特征在于：所述X射线荧光光谱仪的屏幕上显示步骤1中的I_Cl及I_Ge。
4.根据权利要求1所述的利用X射线荧光光谱仪进行氯含量检测的方法，其特征在于：通过软件程序执行上述公式的计算。
5.根据权利要求4所述的利用X射线荧光光谱仪进行氯含量检测的方法，其特征在于：所述软体程序的界面至少包括用于输入I_Cl及I_Ge的两个输入栏，和用于输出X_Cl的输出栏。
6.根据权利要求4所述的利用X射线荧光光谱仪进行氯含量检测的方法，其特征在于：所述软体程序安装在所述X射线荧光光谱仪中，所述X射线荧光光谱仪的屏幕上显示步骤2中的X_Cl。
7.根据权利要求1所述的利用X射线荧光光谱仪进行氯含量检测的方法，其特征在于：所述样品为液体或固体的化工产品。
8.一种利用X射线荧光光谱仪进行氯含量检测的方法，其特征在于，使用所述X射线荧光光谱仪对已知氯含量的多组标准样品进行检测，获取每组标准样品中氯的荧光强度值及锗晶体产生的荧光强度值，分别定义为I_Cl及I_Ge；每组标准样品中的氯含量值定义为X_Cl，将上述多组标准样品的X_Cl、I_Cl及I_Ge代入以下线性关系：X_Cl＝A0*I_Cl+A1*I_Ge+A2*I_Cl*I_Ge+A3中，确定A0、A1、A2及A3的具体数值。
9.根据权利要求8所述的利用X射线荧光光谱仪进行氯含量检测的方法，其特征在于：检测时，将样品放置在检测处，检测出样品中氯的荧光强度值及锗晶体产生的荧光强度值，即样品的I_Cl及I_Ge，并代入上述公式，得出X_Cl，即样品的氯含量值。
10.根据权利要求8所述的利用X射线荧光光谱仪进行氯含量检测的方法，其特征在于：通过软件程序执行上述公式的计算。
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