[发明专利]应用于探地雷达的地表可重构阻抗匹配方法及装置

权利要求书

1.一种应用于探地雷达的地表可重构阻抗匹配方法，其特征在于，包括：

根据反射波束与测试波束的幅值比确定当前探测环境的等效阻抗；

若判断获知预设的码表中包含所述等效阻抗，则根据所述等效阻抗匹配其对应的控制参数；所述码表存储有若干种场景下的特征阻抗及其对应的控制参数；

将所述控制参数发送至可重构阻抗匹配层，以使其调节自身的特征阻抗；

其中，所述根据反射波束与测试波束的幅值比确定当前探测环境的等效阻抗之后，还包括：

若判断获知所述码表中不包含所述等效阻抗，则根据调节控制过程中特征阻抗在史密斯圆图上的变化规律，通过迭代最小化进行优化，逼近目标阻抗，确定新的控制参数；

其中，所述可重构阻抗匹配层由若干个可控阻抗超材料单元组成，且每一可控阻抗超材料单元均包括绝缘介质基底、金属刻蚀层和具有电调节功能的可控元件；

其中，所述确定新的控制参数之后，还包括将特征阻抗和新的控制参数存入所述码表。

2.一种应用于探地雷达的阻抗控制器，其特征在于，包括：

确定模块，用于根据反射波束与测试波束的幅值比确定当前探测环境的等效阻抗；

匹配模块，用于若判断获知预设的码表中包含所述等效阻抗，则根据所述等效阻抗匹配其对应的控制参数；所述码表存储有若干种场景下的特征阻抗及其对应的控制参数；

发送模块，用于将所述控制参数发送至可重构阻抗匹配层，以使其调节自身的特征阻抗；

其中，所述根据反射波束与测试波束的幅值比确定当前探测环境的等效阻抗之后，还包括：

若判断获知所述码表中不包含所述等效阻抗，则根据调节控制过程中特征阻抗在史密斯圆图上的变化规律，通过迭代最小化进行优化，逼近目标阻抗，确定新的控制参数；

其中，所述可重构阻抗匹配层由若干个可控阻抗超材料单元组成，且每一可控阻抗超材料单元均包括绝缘介质基底、金属刻蚀层和具有电调节功能的可控元件；

其中，所述确定新的控制参数之后，还包括将特征阻抗和新的控制参数存入所述码表。

3.一种应用于探地雷达的地表可重构阻抗匹配系统，其特征在于，包括：发射天线、接收天线、可重构阻抗匹配层和权利要求2中所述的阻抗控制器；

所述发射天线、所述接收天线和所述可重构阻抗匹配层分别与所述阻抗控制器相连接；

所述发射天线用于发射测试波束；

所述接收天线用于接收反射波束；

所述可重构阻抗匹配层用于根据所述阻抗控制器发送的控制参数调节其自身的特征阻抗；

其中，根据反射波束与测试波束的幅值比确定当前探测环境的等效阻抗之后，还包括：

若判断获知所述码表中不包含所述等效阻抗，则根据调节控制过程中特征阻抗在史密斯圆图上的变化规律，通过迭代最小化进行优化，逼近目标阻抗，确定新的控制参数；

其中，所述可重构阻抗匹配层由若干个可控阻抗超材料单元组成，且每一可控阻抗超材料单元均包括绝缘介质基底、金属刻蚀层和具有电调节功能的可控元件；

其中，所述确定新的控制参数之后，还包括将特征阻抗和新的控制参数存入所述码表。

4.根据权利要求3所述的应用于探地雷达的地表可重构阻抗匹配系统，其特征在于，所述绝缘介质基底的材料为玻璃纤维、陶瓷或聚四氟乙烯。

5.根据权利要求3所述的应用于探地雷达的地表可重构阻抗匹配系统，其特征在于，所述金属刻蚀层为铜刻蚀层。

6.一种电子设备，包括存储器、处理器，以及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时，实现如权利要求1所述应用于探地雷达的地表可重构阻抗匹配方法的步骤。

7.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，当所述计算机程序被处理器执行时，实现如权利要求1所述应用于探地雷达的地表可重构阻抗匹配方法的步骤。