[发明专利]自动分析仪及其光源监测方法、校准方法和存储介质

权利要求书

1.一种自动分析仪，其特征在于，包括光测部件、反应部件、处理器和输出装置；

所述光测部件包括光源组件和检测单元，所述光源组件用于发射至少一种波长的光束并使所述光束照射检测位，所述检测单元用于收集通过检测位的光束，并根据光束的光谱强度输出电信号；

所述反应部件与所述处理器连接，其包括多个用于放置反应杯的放置位和至少一个校准位，所述反应部件在处理器的控制下将多个放置位和至少一个校准位按照设定的时序调度至所述检测位，以使放置位或校准位上的被测对象接受光束照射；

所述处理器还分别与所述检测单元和所述输出装置连接，用于接收检测单元输出的电信号，根据放置位上的被测对象接受光束照射时检测单元输出的电信号计算被测对象的光谱吸光度，根据校准位上的被测对象接受光束照射时检测单元输出的电信号得到光源本底强度，当判断出同一波长光束对应的相邻N次光源本底强度间的波动量超过波动阈值时，向所述输出装置发送光源异常提示信息，所述N为大于或等于2的整数；

所述输出装置用于输出所述光源异常提示信息。

2.如权利要求1所述的自动分析仪，其特征在于，所述处理器还用于在开机后，当判断出同一波长光束对应的相邻N次光源本底强度间的波动量均小于波动阈值时，向输出装置发送可以开始样本测量的测量提示信息；

所述输出装置还用于输出所述测量提示信息。

3.一种自动分析仪，其特征在于，包括光测部件、反应部件和处理器；

所述光测部件包括光源组件和检测单元，所述光源组件用于发射至少一种波长的光束并使所述光束照射检测位，所述检测单元用于收集通过检测位的光束，并根据光束的光谱强度输出电信号；

所述反应部件与所述处理器连接，其包括多个用于放置反应杯的放置位和至少一个校准位，所述反应部件在处理器的控制下于每个测量周期将多个放置位和至少一个校准位按照设定的时序调度至所述检测位，以使放置位或校准位上的被测对象接受光束照射；

所述处理器还与所述检测单元连接，用于接收检测单元输出的电信号，根据放置位上的被测对象接受光束照射时检测单元输出的电信号计算被测对象的光谱吸光度，根据校准位上的被测对象接受光束照射时检测单元输出的电信号得到光源本底强度，根据所述光源本底强度对放置位上的被测对象的光谱吸光度进行校准。

4.如权利要求1所述的自动分析仪，其特征在于，所述反应部件在处理器的控制下于每个测量周期将多个放置位和至少一个校准位按照设定的时序调度至所述检测位。

5.如权利要求4所述的自动分析仪，其特征在于，所述处理器还用于在每个测量周期根据各波长光束对应的光源本底强度对放置位上的被测对象的光谱吸光度进行校准。

6.如权利要求3或5所述的自动分析仪，其特征在于，在每个测量周期，所述反应部件在处理器的控制下将一个校准位调度至所述检测位；

所述处理器具体用于：在每个测量周期，对于每一种波长的光束，根据该波长光束对应的一个光源本底强度分别对各放置位上的被测对象的光谱吸光度进行校准。

7.如权利要求3或5所述的自动分析仪，其特征在于，在每个测量周期，所述反应部件在处理器的控制下将至少两个校准位调度至所述检测位；

所述处理器具体用于：在每个测量周期，对于在各校准位上获取的每个光源本底强度，根据该光源本底强度分别对该光源本底强度对应的校准位及下一个校准位之间的各放置位上的被测对象的光谱吸光度进行校准。

8.如权利要求6或7所述的自动分析仪，其特征在于，所述处理器在根据光源本底强度对各放置位上的被测对象的光谱吸光度进行校准时具体用于：

对于每个放置位上的被测对象，根据校准位上的被测对象接受与该放置位相同波长的光束时得到的光源本底强度和该放置位对应的基准光源本底强度计算校准因子；

根据所述校准因子对该放置位上的被测对象在相同波长光束照射下的光谱吸光度进行校准。