[发明专利]自动分析仪及其反应杯污染的判定方法和存储介质

权利要求书

1.一种自动分析仪，其特征在于，包括光测部件、反应部件、处理器和输出装置；

所述光测部件包括光源组件和检测单元，所述光源组件用于发射至少一种波长的光束并使所述光束照射检测位，所述检测单元用于收集通过检测位的光束，并根据光束的光谱强度输出电信号；

所述反应部件与所述处理器连接，其包括多个用于放置反应杯的放置位和至少一个校准位，所述反应部件在处理器的控制下于每个杯空白测量周期将多个放置位和至少一个校准位按照设定的时序调度至所述检测位，以使放置位或校准位上的被测对象接受光束照射；

所述处理器还分别与所述检测单元和所述输出装置连接，用于接收检测单元输出的电信号，根据放置位上的被测对象接受光束照射时检测单元输出的电信号得到放置位上反应杯的杯空白光强，根据校准位上的被测对象接受光束照射时检测单元输出的电信号得到光源本底强度，根据所述杯空白光强和所述光源本底强度计算反应杯的透过率，当判断出所述透过率满足预设异常条件时，向所述输出装置发送反应杯受污染的提示信息；

所述输出装置用于输出所述反应杯受污染的提示信息。

2.如权利要求1所述的自动分析仪，其特征在于，所述处理器具体用于当判断出所述透过率小于预设的透过率阈值时，向所述输出装置发送反应杯受污染的提示信息。

3.如权利要求1所述的自动分析仪，其特征在于，所述处理器具体用于当判断出反应杯前后两次的透过率的波动值超过变化阈值时，向所述输出装置发送反应杯受污染的提示信息。

4.如权利要求1所述的自动分析仪，其特征在于，所述处理器具体用于根据透过率计算公式计算反应杯的透过率，所述透过率计算公式为：

其中，T_i为反应杯在第i次杯空白测量周期得到的透过率，I_blanki为反应杯在第i次杯空白测量周期测得的杯空白光强，I_i0为反应杯在第i次杯空白测量周期测得的对应的光源本底强度。

5.如权利要求1所述的自动分析仪，其特征在于，所述反应部件在处理器的控制下于每个杯空白测量周期将多个放置位和一个校准位按照设定的时序调度至所述检测位；在每个杯空白测量周期，所述处理器根据校准位上的被测对象接受光束照射时检测单元输出的电信号得到光源本底强度，将所述光源本底强度作为所有反应杯在该杯空白测量周期的光源本底强度。

6.如权利要求1所述的自动分析仪，其特征在于，所述反应部件在处理器的控制下于每个杯空白测量周期将多个放置位和至少两个校准位按照设定的时序调度至所述检测位；在每个杯空白测量周期，所述处理器根据校准位上的被测对象接受光束照射时检测单元输出的电信号得到至少两个光源本底强度，对于每个光源本底强度，所述处理器将该光源本底强度作为该光源本底强度对应的校准位及下一个校准位之间的各放置位上反应杯在该杯空白测量周期的光源本底强度。

7.如权利要求1所述的自动分析仪，其特征在于，所述校准位上的被测对象包括空气或均匀透光物。

8.如权利要求1所述的自动分析仪，其特征在于，所述校准位包括反应杯之间的空隙或不用于放置反应杯的放置位。

9.如权利要求1所述的自动分析仪，其特征在于，所述光源组件包括光源以及间隔排布于所述光源同一侧的准直单元、分光单元和第一聚光单元，所述检测单元包括第二聚光单元和光电检测器；

所述光源发出的光束经所述准直单元准直后经过所述分光单元，所述分光单元将准直后的光束分为至少一种波长的光束，该光束经所述第一聚光单元会聚和整形后照射检测位；

所述第二聚光单元收集通过检测位的光束并将该光束会聚到所述光电检测器，所述光电检测器将该光束的光谱强度转换为电信号输出。