[发明专利]统计延时分析方法与系统有效

专利信息
申请号: 202010515695.2 申请日: 2020-06-08
公开(公告)号: CN111650496B 公开(公告)日: 2022-07-05
发明(设计)人: 吴玉平;陈岚 申请(专利权)人: 中国科学院微电子研究所
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 任岩
地址: 100029 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 统计 延时 分析 方法 系统
【权利要求书】:

1.一种统计延时分析方法,其特征在于,包括:

(1)采用蒙特卡洛方法确定随机分布的工艺波动相关的参数取值,先对随机分布的尾部区域采样确定工艺波动相关的参数取值,从而大幅降低不符合时序要求的路径的时序分析时间;

(2)通过电路单元的参数化延时估算模型计算参数取值所对应的延时从而确定路径延时;

(3)根据蒙特卡洛采样点参数取值下路径延时检查路径时序是否正确。

2.根据权利要求1所述的统计延时分析方法,其特征在于,

通过放大工艺参数的标准偏差提高在所述随机分布的尾部区域采样的概率。

3.根据权利要求1-2任一项所述的统计延时分析方法,其特征在于,

步骤(1)中所述采用蒙特卡洛方法确定随机分布的工艺波动相关的参数取值的方法包括:

(1.1)读入与电路单元参数化延时估算模型关联的工艺波动相关的敏感参数;

(1.2)根据与电路单元参数化延时估算模型关联的工艺波动相关的敏感参数降低蒙特卡洛分析的维度,然后进行基于蒙特卡洛方法的参数取值。

4.根据权利要求3所述的统计延时分析方法,其特征在于,

步骤(2)中所述电路单元的参数化延时估算模型的参数包括器件尺寸参数、工艺波动相关的器件模型参数、工作电压参数、电路温度参数、电路老化状态参数中的至少一种。

5.根据权利要求4所述的统计延时分析方法,其特征在于,

所述器件尺寸参数包括电路单元内各器件的尺寸参数;

所述工艺波动相关的器件模型参数包括电路单元内各个器件的表征工艺波动的模型参数;

所述工作电压参数包括电路单元的多个电源各自的工作电压参数;

所述电路温度参数包括每个器件独立的温度参数或多个器件共用一个的温度参数;

所述电路老化状态参数包括电路单元内一个或多个器件的老化状态参数。

6.根据权利要求5所述的统计延时分析方法,其特征在于,还包括:

在步骤(2)开始之前进行电路压降分析以确定路径上每一电路单元的实际工作电压范围;

在通过电路单元的参数化延时估算模型计算参数取值所对应的延时从而确定路径延时时代入电路单元的实际工作电压;

其中,在步骤(2)开始之前进行电路热分布分析以确定路径上每一电路单元内各器件的实际工作温度范围;

在通过电路单元的参数化延时估算模型计算参数取值所对应的延时从而确定路径延时时代入电路单元内各器件的实际工作温度。

7.根据权利要求6所述的统计延时分析方法,其特征在于,还包括:

在步骤(2)开始之前进行电路老化状态分析以确定指定工作条件下路径上每一电路单元内各器件的实际老化状态;

在通过电路单元的参数化延时估算模型计算参数取值所对应的延时从而确定路径延时时代入电路单元内各器件的实际老化状态。

8.根据权利要求7所述的统计延时分析方法,其特征在于,还包括:

在步骤(2)开始之前进行电路热分布分析以确定路径上每一电路单元内各器件的实际工作温度范围;在通过电路单元的参数化延时估算模型计算参数取值所对应的延时从而确定路径延时时代入电路单元内各器件的实际工作温度;

根据热分布分析所确定的器件的实际工作温度范围对电路进行老化状态分析以确定指定工作条件下路径上每一电路单元内各器件的实际老化状态;在通过电路单元的参数化延时估算模型计算参数取值所对应的延时从而确定路径延时时代入电路单元内各器件的实际老化状态。

9.一种统计延时分析系统,采用如权利要求1至8任一项所述的统计延时分析方法。

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