[发明专利]一种亚10纳米级仿生结构二硫化钼-碳多层薄膜制备方法有效
申请号: | 202010497699.2 | 申请日: | 2020-06-04 |
公开(公告)号: | CN111485212B | 公开(公告)日: | 2022-02-22 |
发明(设计)人: | 魏晓莉;高凯雄 | 申请(专利权)人: | 兰州文理学院 |
主分类号: | C23C14/35 | 分类号: | C23C14/35;C23C14/06;C23C14/48 |
代理公司: | 兰州中科华西专利代理有限公司 62002 | 代理人: | 曹向东 |
地址: | 730000 甘*** | 国省代码: | 甘肃;62 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 10 纳米 仿生 结构 二硫化钼 多层 薄膜 制备 方法 | ||
1.一种亚10纳米级仿生结构二硫化钼-碳多层薄膜制备方法,其特征在于:对处理后的基底部件采用高功率脉冲非平衡磁控溅射方法制备二硫化钼层,再利用高压等离子体浸没离子注入技术,将纯度大于99.99%的CH4等离子体中注入到所述二硫化钼层上形成碳层,循环反复40~80个周期,且每层的厚度控制在10nm以下,即在所述基底部件上交替沉积形成亚10纳米级仿生结构二硫化钼-碳多层薄膜;所述高功率脉冲非平衡磁控溅射方法制备二硫化钼层是指在纯度大于99.99%的Ar气条件下,先采用高功率脉冲磁控溅射电源对所述处理后的基底部件进行高能钼金属离子轰击,轰击过程中保持腔内气压为0.5~0.8Pa,轰击的高能钼金属离子源为纯度大于99.99%的钼靶,高功率脉冲磁控溅射电源电压为900~1200V,直流脉冲偏压为300~500V,轰击时间为10~20min;再采用高功率脉冲磁控溅射电源对所述处理后的基底部件进行高能二硫化钼轰击,轰击过程中保持腔内气压在0.5~0.8Pa,轰击的高能二硫化钼为纯度大于99.99%的二硫化钼靶,高功率脉冲磁控溅射电源电压为900~1200V,直流脉冲偏压为300~500V,轰击时间为0.5~1min;所述高压等离子体浸没离子注入技术的条件是指腔内气体压强为0.5~1Pa,高压电源电压为5000~8000V,轰击时间为0.5~1min。
2.如权利要求1所述的一种亚10纳米级仿生结构二硫化钼-碳多层薄膜制备方法,其特征在于:所述处理后的基底部件是指将基底部件在清洗装置中用丙酮经超声波清洗10min后N2干燥,然后装入真空腔中;将所述真空腔的真空度抽至1.0×10-3 Pa,利用纯度大于99.99%的Ar气体离子进行轰击清洗即得。
3.如权利要求2所述的一种亚10纳米级仿生结构二硫化钼-碳多层薄膜制备方法,其特征在于:所述基底部件材质是指单晶硅片;或者是指热处理回火温度大于150℃、表面光洁度Ra0.6μm,表面无锈点和凹坑的不锈钢、轴承钢、模具钢、碳素钢、铸铁中的一种。
4.如权利要求2所述的一种亚10纳米级仿生结构二硫化钼-碳多层薄膜制备方法,其特征在于:所述轰击清洗的条件是指真空腔内气压为0.5~0.8Pa,离子源电流强度为3~5A,高压离子源电压为3000~5000V,轰击时间为15min。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于兰州文理学院,未经兰州文理学院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202010497699.2/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类