[发明专利]用于测量表面形貌的设备和方法以及校准方法有效
申请号: | 202010494176.2 | 申请日: | 2017-04-07 |
公开(公告)号: | CN111595269B | 公开(公告)日: | 2022-05-24 |
发明(设计)人: | L.奥姆洛尔;C.格拉泽纳普 | 申请(专利权)人: | 卡尔蔡司股份公司 |
主分类号: | G01B11/25 | 分类号: | G01B11/25;G01B21/04;G03B3/04 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 卢江;刘春元 |
地址: | 德国巴登-符*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 测量 表面 形貌 设备 方法 以及 校准 | ||
1.一种用于测量物体(12)的光学有效面(18)的形貌和/或梯度和/或曲率的设备(10);
具有用于照亮该面(18)的多个点光源(20),并且
具有至少一个相机(34),该相机具有物镜组件(40)和用于采集亮度分布的图像传感器(46),该亮度分布在图像传感器(46)上由多个点光源(20)的在该面(18)上反射的光引起;
其特征在于,
该相机(34)的该图像传感器(46)沿着穿过该物镜组件(40)的调节轴线(52)以能够线性移动式位移的方式安排;
其中设置有用于确定该图像传感器(46)在该调节轴线(52)上的位置的器件;并且其中
设置有补偿器件,用于依赖于所确定的该图像传感器(46)在该调节轴线(52)上的位置确定并且补偿与该图像传感器(46)的位移相关联的该图像传感器(46)的平面中的亮度分布的光斑(57)的x、y漂移。
2.根据权利要求1所述的设备,其特征在于,该物镜组件(40)具有与该调节轴线(52)齐平的光轴(42)。
3.根据权利要求1或2所述的设备,其特征在于用于将该待测量的物体(12)安排在接收范围(14)内贴靠在该物体(12)上的接触部上的装置(16)。
4.根据权利要求3所述的设备,其特征在于提供光的多个点光源(20),该光在安排在该接收范围内的物体(12)的待测量的面(18)上被反射。
5.根据权利要求4所述的设备,其特征在于计算机单元(56),其具有计算机程序和存储器,该计算机程序存储在该存储器上,其中该计算机程序使用算法根据使用该图像传感器(46)采集到的亮度分布计算该物体(12)的光学有效面(18)的形貌和/或梯度和/或曲率,该亮度分布在该图像传感器(46)上由点光源(20)的在待测量的面(18)上反射的光引起。
6.根据权利要求4所述的设备,其特征在于,这些点光源(20)安排在三维的半空间上。
7.根据权利要求5所述的设备,其特征在于,这些点光源(20)安排在三维的半空间上。
8.根据权利要求4所述的设备,其特征在于安排在该接收范围(14)与该物镜组件(40)之间的透镜(80),该透镜的折射能力为正或为负。
9.根据权利要求5所述的设备,其特征在于安排在该接收范围(14)与该物镜组件(40)之间的透镜(80),该透镜的折射能力为正或为负。
10.根据权利要求6所述的设备,其特征在于安排在该接收范围(14)与该物镜组件(40)之间的透镜(80),该透镜的折射能力为正或为负。
11.根据权利要求7所述的设备,其特征在于安排在该接收范围(14)与该物镜组件(40)之间的透镜(80),该透镜的折射能力为正或为负。
12.根据权利要求8所述的设备,其特征在于,该透镜(80)具有与该物镜组件(40)的光轴(42)齐平的光轴。
13.一种用于测量物体(12)的光学有效面(18)的形貌和/或梯度和/或曲率的方法,该方法包括以下步骤:
提供至少一个相机(34),其中
该相机(34)包含物镜组件(40)和用于采集亮度分布的图像传感器(46),该亮度分布在图像传感器(46)上由在该待测量的面(18)上反射的光引起;
其特征在于,
使该相机(34)的该图像传感器(46)沿着穿过该物镜组件(40)的调节轴线(52)移位,其中确定该图像传感器(46)在该调节轴线(52)上的位置;并且
依赖于所确定的该图像传感器(46)在该调节轴线(52)上的位置确定并且然后补偿与该图像传感器(46)的位移相关联的该图像传感器(46)的平面中的亮度分布的光斑(57)的x、y漂移。
14.一种计算机可读的存储介质,该存储介质具有存储在其上的具有程序代码工具的计算机程序,该程序代码工具用于当在计算机单元(56)上实施该计算机程序时执行根据权利要求13所述的方法。
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