[发明专利]N(N≥20)基色光谱拟合目标光谱的优化方法有效

专利信息
申请号: 202010491224.2 申请日: 2020-06-02
公开(公告)号: CN111854951B 公开(公告)日: 2022-09-16
发明(设计)人: 韩秋漪;柳丝婉;李福生;张善端 申请(专利权)人: 复旦大学
主分类号: G01J3/12 分类号: G01J3/12;G01N21/01
代理公司: 上海正旦专利代理有限公司 31200 代理人: 王洁平
地址: 200433 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 20 基色 光谱 拟合 目标 优化 方法
【权利要求书】:

1.一种N基色光谱拟合目标光谱的优化方法,N≥20,其特征在于,其合成光谱满足一般显色指数Ra≥95,特殊显色指数R1~R15≥95,色温偏差ΔTc≤10K的要求;

用N基色光谱拟合目标光谱的过程中,依次计算第i列基色光谱对应波长范围内合成光谱与目标光谱的差值和Di,其中,i=1:N;

假如第i列基色光谱与目标光谱的差值和Di不满足判据值δ要求,则以第i列基色光谱的峰值波长为中心,统计峰值波长位于第i列基色光谱左右两侧半宽范围内[λi-Δλi,λi+Δλi]的基色光谱数并分别表示成k=i-a,i-a+1,…,i-1,i+1,i+2,…,i+b;其中,λi为峰值波长、Δλi为半宽,a为该范围内峰值波长小于λi的基色光谱数,b为该范围内峰值波长大于λi的基色光谱数;

依次计算第i列基色光谱与目标光谱的差值和Di并判据调整对应光谱的合成比例从而改变合成光谱,直至第i列基色光谱与目标光谱的差值和Di满足判据要求,则第i列基色光谱调节完毕,进行下一列基色光谱的调节;

当N基色光谱均作为中心光谱重复上述过程后,得到和目标光谱最逼近的合成光谱;具体步骤如下:

1)已知目标光谱T(λ)的光谱功率分布及拟合的波长范围[λLH],以及N基色光谱的参数包括光谱功率分布Mi(λ)、峰值波长λi、半宽Δλi;对所有基色光谱的合成比例赋初值pi=p,0<p<1,则初始的合成光谱为其中N表示基色光谱数;

2)设定判据值δ,作为差值和Di的判据条件;

3)设定数值ζ,作为基色光谱合成比例的调节量;

4)计算每列基色光谱对应波长范围内合成光谱与目标光谱的差值和Di:对于第i列基色光谱,取li=Max(λii-1i+1i),即li是第i列量子点光谱与相邻两个量子点光谱的峰值波长间隔的较大值;则第i列量子点光谱对应的差值和其中λmin=Max[λL,(λi-li/2)],λmax=Min[(λi+li/2),λH];

5)对于第i列基色光谱,若|Di|<δ,则完成该光谱比例调节,输出对应合成比例pi,并跳转到下一列基色光谱的调节;反之,则对该列基色光谱及其影响范围内的其他基色光谱的合成比例进行协同调节;

6)统计峰值波长位于第i列基色光谱半宽波长范围[λi-Δλii+Δλi]内的所有基色光谱序列i-a,i-a+1,…,i-1和i+1,i+2,…,i+b,其中a为该范围内峰值波长小于λi的基色光谱数,b为该范围内峰值波长大于λi的基色光谱数;

7)令k=i-a,i-a+1,…,i-1,i+1,i+2,…,i+b,若|Dk|<δ,则第k列基色光谱对应比例pk′=pk;若|Dk|≥δ,则Dk>0时pk′=pk-ζ,Dk<0时pk′=pk+ζ,得到调整后的合成光谱S′(λ);返回步骤4);其中:Dk为第k列基色光谱与目标光谱T(λ)在(λk-l,λk+l)内的差值和,l为相邻两列光谱之间的峰值波长间隔;

8)根据步骤4)–7)完成所有N基色光谱的调节,获得本次循环的合成光谱结果,并计算显色指数Ra和R1~R15、色温光色参数;

9)若显色指数、色温光色参数不能同时满足一般显色指数Ra≥95,特殊显色指数R1~R15≥95,色温偏差△Tc≤10K,则缩小判据值δ,重复步骤2)–8),直至各项光色参数均符合要求,得到最终的合成光谱。

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