[发明专利]一种目标试纸层析完全的判断方法、装置及存储介质

权利要求书

1.一种目标试纸层析完全的判断方法，其特征在于，包括：

采集获取目标试纸上的荧光曲线，所述目标试纸上滴有待测样品液；

获取所述荧光曲线的层析上升沿位置以及层析下降沿位置；

根据所述层析上升沿位置和所述层析下降沿位置，计算所述层析上升沿位置以及所述层析下降沿位置之间的层析距离差；

根据所述层析距离差与所述目标试纸所在卡的槽上升沿和下降沿之间的距离差，判断所述目标试纸是否层析完全；

其中，所述获取所述荧光曲线的层析上升沿位置以及层析下降沿位置，包括：

对所述荧光曲线进行一阶求导，得到一阶导曲线图；

根据所述一阶导曲线图，确定所述荧光曲线的层析上升沿位置以及层析下降沿位置；

其中，所述根据所述一阶导曲线图，确定所述荧光曲线的层析上升沿位置以及层析下降沿位置，包括：

沿所述荧光曲线的开始方向处取N个点作为前基线，在所述荧光曲线的结束方向取N个点作为后基线，其中N为大于0的整数；

在所述荧光曲线上从前向后取荧光值首次连续大于所述前基线且所述荧光值对应的一阶导曲线图的一阶导数为正的位置为所述层析上升沿位置，从后向前取所述荧光曲线上的荧光值首次连续大于所述后基线且所述荧光值对应的一阶导曲线图的一阶导数为负的位置为所述层析下降沿位置；

其中，所述根据所述层析距离差与所述目标试纸所在卡的槽上升沿和下降沿之间的距离差，判断所述目标试纸是否层析完全，包括：

获取所述层析上升沿位置、所述层析下降沿位置在所述荧光曲线上对应的横坐标之差为所述层析距离差；

当所述层析距离差与槽的上升沿和下降沿之间的距离差相等时，确定所述目标试纸层析完全。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述采集获取目标试纸上的荧光曲线，包括：

以固定速率扫描所述目标试纸，获取所述目标试纸上的荧光值；

将所述荧光值作为纵坐标，将荧光值对应的位置作为横坐标绘制所述荧光曲线。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述确定所述目标试纸层析完全之后，还包括：

根据所述荧光曲线，计算获取所述待测样品液的浓度。

4.一种目标试纸层析完全的判断装置，其特征在于，包括：采集单元、计算单元以及判断单元；

所述采集单元，用于采集获取目标试纸上的荧光曲线，所述目标试纸上滴有待测样品液；

所述计算单元，用于获取所述荧光曲线的层析上升沿位置以及层析下降沿位置，根据所述层析上升沿位置和所述层析下降沿位置，计算所述层析上升沿位置以及所述层析下降沿位置之间的层析距离差；

所述判断单元，用于根据所述层析距离差与所述目标试纸所在卡的槽上升沿和下降沿之间的距离差，判断所述目标试纸是否层析完全；

其中，所述计算单元，用于对所述荧光曲线进行一阶求导，得到一阶导曲线图；

根据所述一阶导曲线图，确定所述荧光曲线的层析上升沿位置以及层析下降沿位置；

其中，所述计算单元具体用于：

沿所述荧光曲线的开始方向处取N个点作为前基线，在所述荧光曲线的结束方向取N个点作为后基线，其中N为大于0的整数；

在所述荧光曲线上从前向后取荧光值首次连续大于所述前基线且所述荧光值对应的一阶导曲线图的一阶导数为正的位置为所述层析上升沿位置，从后向前取所述荧光曲线上的荧光值首次连续大于所述后基线且所述荧光值对应的一阶导曲线图的一阶导数为负的位置为所述层析下降沿位置；

其中，所述判断单元具体用于：

获取所述层析上升沿位置、所述层析下降沿位置在所述荧光曲线上对应的横坐标之差为所述层析距离差；

当所述层析距离差与槽的上升沿和下降沿之间的距离差相等时，确定所述目标试纸层析完全。

5.一种目标试纸层析完全的判断装置，其特征在于，包括：处理器、存储介质和总线，所述存储介质存储有所述处理器可执行的机器可读指令，当所述装置运行时，所述处理器与所述存储介质之间通过总线通信，所述处理器执行所述机器可读指令，以执行如权利要求1-3任一项所述方法的步骤。

6.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器运行时执行如权利要求1-3任一项所述方法的步骤。