[发明专利]数据retention时间的计算方法、装置及设备在审

专利信息
申请号: 202010470817.0 申请日: 2020-05-28
公开(公告)号: CN111737034A 公开(公告)日: 2020-10-02
发明(设计)人: 吕玉彬;戚勇 申请(专利权)人: 广东浪潮大数据研究有限公司
主分类号: G06F11/07 分类号: G06F11/07
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 薛娇
地址: 510620 广东省广州市天河区*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 数据 retention 时间 计算方法 装置 设备
【权利要求书】:

1.一种数据retention时间的计算方法,其特征在于,包括:

获取固态硬盘SSD在过去预设时长内的温度值;

根据所述温度值以及预设温度加速模型计算出所述温度值对应的加速因子;

将所述预设时长与所述加速因子的乘积作为过去所述预设时长内的生命周期增量;

将所述生命周期增量添加至目标数据的retention时间,以便结合预设生命周期对所述目标数据进行存储区域更新。

2.根据权利要求1所述的数据retention时间的计算方法,其特征在于,所述获取固态硬盘SSD在过去预设时长内的温度值具体为:

在SSD上电状态下,获取所述SSD在过去预设时长内的温度值;

则所述将所述生命周期增量添加至目标数据的retention时间之前,该数据retention时间的计算方法还包括:

获取所述SSD的下电时长;

将所述下电时长与预设加速因子的乘积作为所述下电时长内的生命周期增量。

3.根据权利要求2所述的数据retention时间的计算方法,其特征在于,所述根据所述温度值以及预设温度加速模型计算出所述温度值对应的加速因子具体为:

其中,TAF为所述retention时间,Ea为0.67,k为Boltzmann常数,Tnormal为预设标准温度,在所述温度值小于Tnormal时,Tstress为Tnormal,在所述温度值大于Tnormal且小于预设阈值时,Tstress为所述温度值,在所述温度值大于所述预设阈值时,Tstress为所述预设阈值。

4.根据权利要求2所述的数据retention时间的计算方法,其特征在于,所述获取所述SSD的下电时长包括:

在所述SSD下电时,记录下电时间;

在所述SSD上电时,记录上电时间;

根据所述上电时间以及所述下电时间计算出所述SSD的下电时长。

5.根据权利要求1所述的数据retention时间的计算方法,其特征在于,所述获取SSD在过去预设时长内的温度值具体为:

将采集的当前时刻SSD的温度值作为所述SSD在过去预设时长内的温度值。

6.根据权利要求1至5任一项所述的数据retention时间的计算方法,其特征在于,所述将所述生命周期增量添加至目标数据的retention时间之后,该数据retention时间的计算方法还包括:

判断预设生命周期减去所述retention时间的值是否小于预设安全值;

若小于,则执行对所述目标数据的搬移动作并将所述目标数据的retention时间清零;

若不小于,则执行所述获取固态硬盘SSD在过去预设时长内的温度值的步骤。

7.一种数据retention时间的计算装置,其特征在于,包括:

第一获取模块,用于获取固态硬盘SSD在过去预设时长内的温度值;

第一计算模块,用于根据所述温度值以及预设温度加速模型计算出所述温度值对应的加速因子;

第二计算模块,用于将所述预设时长与所述加速因子的乘积作为过去所述预设时长内的生命周期增量;

更新模块,用于将所述生命周期增量添加至目标数据的retention时间,以便结合预设生命周期对所述目标数据进行存储区域更新。

8.根据权利要求7所述的数据retention时间的计算装置,其特征在于,所述第一获取模块具体用于:

在SSD上电状态下,获取所述SSD在过去预设时长内的温度值;

则该数据retention时间的计算装置还包括:

第二获取模块,用于获取所述SSD的下电时长;

第三计算模块,用于将所述下电时长与预设加速因子的乘积作为所述下电时长内的生命周期增量。

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