[发明专利]控制系统的比较方法、控制终端和计算机可读存储介质

说明书

本发明公开了一种控制系统的比较方法，包括：按照预设采样频率进行采样，分别获取对运行第一控制系统的第一设备和运行第二控制系统的第二设备的第一采样数据和第二采样数据；分别计算第一采样数据和第二采样数据与预设标准参数的第一误差数据和第二误差数据；分别根据第一误差数据和第二误差数据计算第一比较数据和第二比较数据；将第一比较数据和第二比较数据进行F校验，判断第一控制系统和第二控制系统的控制能力的差异是否大于预设阈值；若是，则比较第一比较数据和第二比较数据，根据比较的结果生成控制能力比较报告。本发明还提供了控制终端和计算机可读存储介质。本发明有效提升了控制能力比较报告的准确性和可靠性。

技术领域

本发明涉及参数控制技术领域，尤其涉及控制系统的比较方法、控制终端和计算机可读存储介质。

背景技术

很多产品投入市场之后，往往会针对使用过程中出现的一些问题进行控制系统优化，此外，随着产品的更新换代，控制系统也会随之优化。对两种控制系统的评价，往往依靠使用者的直观感受，评价结果较为主观，无法客观评价。

还可以利用数学模型进行仿真，可在短时间内模拟非常多种外部条件来对优化前后的控制系统进行较为充分的对比测试。利用仿真的方式所得结果很大程度受到仿真软件或者数学模型准确性的限制。仿真软件或者数学模型不可能和实际情况完全一致，总会有偏差。对于复杂控制系统而言，其总体数学模型往往是非常多的子模型叠加起来的，仿真误差也会随之累加，最终结果的可信度大打折扣。

发明内容

基于此，有必要针对上述问题，提出一种控制系统的比较方法、控制终端和计算机可读存储介质。

一种控制系统的比较方法，包括：按照预设采样频率对至少一台运行第一控制系统的第一设备和至少一台运行第二控制系统的第二设备的运行数据进行采样，获取每台所述第一设备的第一采样数据以及每台所述第二设备的第二采样数据，所述第一设备和所述第二设备为同型号设备；分别计算每台所述第一设备的所述第一采样数据相对于预设标准参数的第一误差数据和每台所述第二设备的所述第二采样数据相对于所述预设标准参数的第二误差数据；分别根据每台所述第一设备的所述第一误差数据和每台所述第二设备的所述第二误差数据计算每台所述第一设备的第一比较数据和每台所述第二设备的第二比较数据；将所述至少一台第一设备的第一比较数据和所述至少一台第二设备的所述第二比较数据进行F校验，根据F校验的结果判断所述第一控制系统和所述第二控制系统的控制能力的差异是否大于预设阈值；若所述第一控制系统与所述第二控制系统的控制能力的差异大于预设阈值，则比较所述第一比较数据和所述第二比较数据，根据比较的结果生成所述第一控制系统和所述第二控制系统的控制能力比较报告。

一种控制终端，包括：采样模块，用于按照预设采样频率对至少一台运行第一控制系统的第一设备和至少一台运行第二控制系统的第二设备的运行数据进行采样，获取每台所述第一设备的第一采样数据以及每台所述第二设备的第二采样数据，所述第一设备和所述第二设备为同型号设备；误差模块，用于分别计算每台所述第一设备的所述第一采样数据相对于预设标准参数的第一误差数据和每台所述第二设备的所述第二采样数据相对于所述预设标准参数的第二误差数据；计算模块，用于分别根据每台所述第一设备的所述第一误差数据和每台所述第二设备的所述第二误差数据计算每台所述第一设备的第一比较数据和每台所述第二设备的第二比较数据；判断模块，用于将所述至少一台第一设备的第一比较数据和所述至少一台第二设备的所述第二比较数据进行F校验，判断所述第一控制系统和所述第二控制系统的控制能力的差异是否大于预设阈值；结果模块，用于若所述第一控制系统与所述第二控制系统的控制能力的差异大于预设阈值，则比较所述第一比较数据和所述第二比较数据，根据比较的结果生成所述第一控制系统和所述第二控制系统的控制能力比较报告。

一种控制终端，包括：处理器和存储器，所述处理器耦接所述存储器，所述存储器中存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序以实现如上所述的方法。

一种计算机可读存储介质，存储有计算机程序，所述计算机程序能够被处理器执行以实现如上所述的方法。