[发明专利]压力传感器的性能测试方法、测试装置及存储介质

说明书

本发明公开了一种压力传感器的性能测试方法，包括：在不同预设温度以及同一预设压力值下获取压力传感器的第一实际温度值、第二实际温度值、第一实际压力值以及第二实际压力值；根据所述第一实际温度值、所述第一实际压力值、所述第二实际温度值以及所述第二实际压力值获取温度漂移值；在所述温度漂移值小于或等于预设温度漂移值时，根据第二预设压力值以及所述第二预设温度对所述压力传感器进行压力测试，所述第一预设压力值小于所述第二预设压力值。本发明还公开一种测试装置及存储介质。本发明通过控制单一变量，保证测试温度漂移值的准确性，同时避免加压对压力传感器硅膜片的影响，降低对压力传感器的误判率的有益效果。

技术领域

本发明涉及压力传感器技术领域、尤其涉及一种压力传感器的性能测试方法、测试装置及存储介质。

背景技术

随着科技的进步，防水气压传感器被广泛应用于智能穿戴设备如手机、无人机等，其中，温度漂移值是防水气压传感器性能测试的重要指标。现有技术中对防水气压传感器先进行压力冲击后，再测试温度漂移值，而通过加压冲击后的防水气压传感器，由于防水气压传感器的硅膜片没有及时恢复，灵敏度低，测试出来的压力值偏低，导致测试的温度漂移值偏大，将正常的压力传感器误判成不良品的问题。

上述内容仅用于辅助理解本发明的技术方案，并不代表承认上述内容是现有技术。

发明内容

本发明实施例的主要目的在于提供一种压力传感器的性能测试方法，旨在解决现有技术中将正常的压力传感器误判成不良品的技术问题。

为解决上述问题，本发明实施例提供一种压力传感器的性能测试方法，包括以下内容：

在第一预设温度以及第一预设压力值下获取压力传感器的第一实际温度值以及通过所述压力传感器检测到的的第一实际压力值；

在第二预设温度以及所述第一预设压力值下获取所述压力传感器的第二实际温度值以及通过所述压力传感器检测的第二实际压力值；

根据所述第一实际温度值、所述第一实际压力值、所述第二实际温度值以及所述第二实际压力值获取温度漂移值；

在所述温度漂移值小于或等于预设温度漂移值时，根据所述第二预设温度对所述压力传感器进行压力测试，以判定所述压力传感器的性能。

可选地，所述根据所述第一实际温度值、所述第一实际压力值、所述第二实际温度值以及所述第二实际压力值获取温度漂移值的步骤包括：

获取所述第一实际压力值与所述第二实际压力值的压力差值绝对值；

获取所述第一实际温度值与所述第二实际温度值的温度差值绝对值；

获取所述压力差值绝对值与所述温度差值绝对值的比值；

确定所述比值为所述温度漂移值。

可选地，所述压力传感器的性能测试方法还包括：

在所述第一预设温度下，分别获取在40kPa、85kPa、95kPa以及105kPa压力环境下所述压力传感器检测到的第三实际压力值；

在第三预设温度下，分别获取40kPa、95kPa以及105kPa压力环境下所述压力传感器检测到的第四实际压力值；

在所述第三实际压力值以及对应的预设压力值之间的差值在预设范围内时，以及所述第四实际压力值以及对应的预设压力值之间的差值在预设范围内，执行所述在第一预设温度以及第一预设压力值下获取压力传感器的第一实际温度值以及通过所述压力传感器检测到的的第一实际压力值的步骤。

可选地，所述根据所述第二预设温度对所述压力传感器进行压力测试，以判定所述压力传感器的性能的步骤包括：