[发明专利]一种量子测控系统的初始化参数确定方法、设备及介质

权利要求书

1.一种量子测控系统的初始化参数确定方法，其特征在于，所述方法包括：

通过量子测控系统测量量子芯片中量子比特对应的第一谐振腔的频率以及第一测量数据；

通过向量转换模块将所述第一谐振腔的频率与所述第一测量数据分别转化为第一向量与第二向量；

将所述第一向量与所述第二向量输入至预先训练的初始化参数设定模型中，确定出量子测控系统的初始化参数。

2.根据权利要求1所述的量子测控系统的初始化参数确定方法，其特征在于，所述初始化参数设定模型包括第一模型与第二模型；

所述将所述第一向量与所述第二向量输入至预先训练的初始化参数设定模型中，确定出量子测控系统的初始化参数之前，所述方法还包括：

通过量子测控系统测量量子芯片中量子比特对应的第二谐振腔的频率、第二测量数据以及真实物理量子计算机环境下初始化参数；

通过所述向量转换模块将所述第二谐振腔的频率转化为第一模型对应的第三向量与所述第二模型对应的第四向量，并通过所述向量转换模块将所述第二测量数据转化为第五向量；

根据量子芯片的量子比特数量，设定初始的第一模型与初始的第二模型生成初始化参数所占的比例；

根据所述第三向量、所述第五向量以及所述真实物理量子计算机环境下初始化参数，训练所述初始的第一模型，得出符合条件的第一模型；

将所述第三向量与所述第五向量输入至所述符合条件的第一模型，得出第一初始化参数；

根据所述第四向量、所述第五向量、所述第一初始化参数以及所述真实物理量子计算机环境下初始化参数，训练所述初始的第二模型，得出符合条件的第二模型。

3.根据权利要求2所述的量子测控系统的初始化参数确定方法，其特征在于，所述第一模型包括第一生成器与第一辨别器；

所述根据所述第三向量、所述第五向量以及所述真实物理量子计算机环境下初始化参数，训练所述初始的第一模型，得出符合条件的第一模型，具体包括：

固定所述第一生成器的网络参数，根据所述第三向量、所述第五向量以及所述真实物理量子计算机环境下初始化参数，训练所述第一辨别器；

固定训练后的第一辨别器的网络参数，更新所述第一生成器的网络参数；

经过多次训练所述第一辨别器与所述第一生成器，得出符合条件的第一模型。

4.根据权利要求3所述的量子测控系统的初始化参数确定方法，其特征在于，所述根据所述第四向量、所述第五向量以及所述真实物理量子计算机环境下初始化参数，训练所述第一辨别器，具体包括：

将所述第四向量与所述第五向量输入至所述第一生成器，输出第一初始化参数；

通过所述第一初始化参数与所述真实物理量子计算机环境下初始化参数训练所述第一辨别器。

5.根据权利要求2所述的量子测控系统的初始化参数确定方法，其特征在于，所述第二模型包括第二生成器与第二辨别器；

所述根据所述第四向量、所述第五向量、所述第一初始化参数以及所述真实物理量子计算机环境下初始化参数，训练所述初始的第二模型，得出符合条件的第二模型，具体包括：

固定所述第二生成器的网络参数，根据所述第四向量、所述第五向量、所述第一初始化参数以及所述真实物理量子计算机环境下初始化参数，训练所述第二辨别器；

固定训练后的第二辨别器的网络参数，更新所述第二生成器的网络参数；

经过多次训练所述第二辨别器与所述第二生成器，得出符合条件的第二模型。

6.根据权利要求5所述的量子测控系统的初始化参数确定方法，其特征在于，所述根据所述第四向量、所述第五向量、所述第一初始化参数以及所述真实物理量子计算机环境下初始化参数，训练所述第二辨别器，具体包括：

将所述第四向量、所述第五向量及所述第一初始化参数输入至所述第二生成器，输出第二初始化参数；

通过所述第二初始化参数与所述真实物理量子计算机环境下初始化参数训练所述第二辨别器。