[发明专利]闩锁测试机台外部扩展电源装置及方法

说明书

本发明公开了一种闩锁测试机台外部扩展电源装置及方法，装置包括：供连接闩锁测试机台的电源管脚的外接引线；滑动变阻器，所述滑动变阻器的输入端通过一开关控制器与所述外接引线连接；供连接芯片测试板的输出引线，所述输出引线与所述滑动变阻器的输出端连接；电流监控器，与所述滑动变阻器串联连接；电压监控器，与所述滑动变阻器并联连接。本发明利用现有闩锁测试机台电源进行通道扩展，保证测试芯片上电电源大于五组时可利用扩展电源满足测试，并可以对怀疑引起闩锁效应的电源域利用扩展电源单独做测试，精确定位失效路径。

技术领域

本发明涉及一种集成电路测试技术领域，尤其涉及一种闩锁测试机台外部扩展电源装置及方法。

背景技术

集成电路正常工作时，由于设计和工艺的原因，在外界干扰下有可能会造成电路发生闩锁现象，即电源管脚对地管脚表现低阻抗导通，从而导致集成电路不能正常工作。集成电路进行闩锁测试时，需要对其电源以及输入管脚进行上电，模拟正常工作状态。

现有主流的闩锁测试机台，以MK2机台为例，可以将同数值电压的电源管脚和输入管脚作为1组对集成电路上电，最大上电电源组数只有五组，不能够满足具有超过5组数值电压的芯片(集成电路)测试，同时闩锁发生后对引起闩锁发生电源域管脚需单独上电分析时，由于现有五组上电电源已经被占用，没有额外的电源对引起闩锁发生的电源域管脚单独验证测试，所以不能够在继续分析。

如图1所示，闩锁测试机台MK2通常包括机台控制器1，机台电源2五组分别为PS1-PS5，上电后通过内部控制器将五组电源分别引出给机台不同测试通道6，通过芯片测试板3周围分布的引出管脚PAD连接机台不同测试通道6，芯片测试板3的中间区域连接测试夹具5，在测试夹具5中放入芯片5后给芯片4的管脚上电。机台电源只有五组，在进行闩锁测试给芯片电源以及输入管脚上电超过五组时，由于机台电源组数少不能模拟芯片正常工作就不能满足闩锁测试。

当闩锁发生后经过分析得出某组电源域引起失效，从而进行失效分析快速定位时会将失效电源域上电管脚单独作为一组上电验证，当机台电源五组已被占用时，没有额外的电源来提供上电则不能满足测试，失效管脚区域定位将无法进行，对失效分析带来很大的不便，需要通过其他手段将芯片破坏后分析才能精准定位，而导致成本高、花费时间长。

因此，有必要对闩锁测试机台电源进行外部扩展，保证测试需求有多组电源需上电时依然可以满足闩锁测试，并且在芯片发生闩锁时可以针对失效电源域上电管脚单组引出上电测试进行失效定位。

发明内容

为了解决现有闩锁测试机台无法测试超过五组电源上电的问题，本发明对现有闩锁测试机台电源进行外部扩展，提供一种闩锁测试机台外部扩展电源装置以及一种闩锁测试机台外部扩展电源方法。

本发明具体通过下述技术方案来实现：

一种闩锁测试机台外部扩展电源装置，其包括：

供连接闩锁测试机台的电源管脚的外接引线；

滑动变阻器，所述滑动变阻器的输入端通过一开关控制器与所述外接引线连接；

供连接芯片测试板的输出引线，所述输出引线与所述滑动变阻器的输出端连接；

电流监控器，与所述滑动变阻器串联连接；

电压监控器，与所述滑动变阻器并联连接。

作为所述闩锁测试机台外部扩展电源装置的较佳实施方式，所述电流监控器的输入端与所述滑动变阻器的输出端连接，所述电流监控器的输出端与所述输出引线连接。

作为所述闩锁测试机台外部扩展电源装置的较佳实施方式，所述电压监控器的输入端与所述外接引线连接，所述电压监控器的输出端与所述输出引线连接。

作为所述闩锁测试机台外部扩展电源装置的较佳实施方式，所述电流监控器为数字电流表。