[发明专利]项目测试缺陷分析方法、装置、设备及存储介质在审

专利信息
申请号: 202010455310.8 申请日: 2020-05-26
公开(公告)号: CN111611172A 公开(公告)日: 2020-09-01
发明(设计)人: 范永骏 申请(专利权)人: 深圳壹账通智能科技有限公司
主分类号: G06F11/36 分类号: G06F11/36
代理公司: 深圳众鼎专利商标代理事务所(普通合伙) 44325 代理人: 谭果林
地址: 518000 广东省深圳市前海深港合作区前*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 项目 测试 缺陷 分析 方法 装置 设备 存储 介质
【说明书】:

发明公开了一种项目测试缺陷分析方法、装置、设备及存储介质。所述方法包括:接收客户端发送的项目测试请求,解析出项目测试请求中包含的待测试项目和接口调用参数;根据接口调用参数调用配置在预设缺陷跟踪工具中的预设接口,并通过预设接口获取待测试项目进行测试过程中的所有缺陷数据;将所有缺陷数据输入至预设的缺陷分析模型中,并接收缺陷分析模型输出的缺陷分析结果;将待测试项目与缺陷分析结果关联存储至数据库,同时将缺陷分析结果发送至客户端。本发明节约了人工成本,且缺陷数据粒度更细,有利于提高数据处理效率和缺陷分析结果的可靠性。

技术领域

本发明涉及测试技术领域,具体涉及一种项目测试缺陷分析方法、装置、设备及存储介质。

背景技术

随着计算机科学技术的快速发展,软件的应用领域逐步推广,软件规模和成本逐渐增大,软件设计的复杂程度不断提高,软件开发中出现错误或缺陷的机会越来越多,同时,市场对软件质量的重要性的认识逐渐增强。软件过程管理是提高软件质量和软件开发效率的关键,而软件的缺陷管理则是软件过程管理的一个重要方面,其作为软件生命周期的一部分在软件项目实施过程中的重要性日益突出,是保证软件质量的重要手段。

目前,衡量软件开发质量的关键指标,往往需要人工去观察缺陷数据,并对缺陷数据进行人工计算获得,容易导致关键指标出错,且颇为耗费人力,此外,根据人工计算获得的关键指标进行结果分析,可能会导致结果分析不准确的问题。

发明内容

本发明实施例提供一种项目测试缺陷分析方法、装置、设备及存储介质,以解决现有技术中对缺陷数据进行人工计算分析,造成人力耗费,且分析结果不准确的问题。

一种项目测试缺陷分析方法,包括:

接收客户端发送的项目测试请求,解析出所述项目测试请求中包含的待测试项目和接口调用参数;

根据所述接口调用参数调用配置在预设缺陷跟踪工具中的预设接口,并通过所述预设接口获取所述待测试项目进行测试过程中的所有缺陷数据;

将所有所述缺陷数据输入至预设的缺陷分析模型中,并接收所述缺陷分析模型输出的缺陷分析结果;

将所述待测试项目与所述缺陷分析结果关联存储至数据库,同时将所述缺陷分析结果发送至所述客户端。

一种项目测试缺陷分析装置,包括:

接收模块,用于接收客户端发送的项目测试请求,解析出所述项目测试请求中包含的待测试项目和接口调用参数;

项目测试模块,用于根据所述接口调用参数调用配置在预设缺陷跟踪工具中的预设接口,并通过所述预设接口获取所述待测试项目进行测试过程中的所有缺陷数据;

数据分析模块,用于将所有所述缺陷数据输入至预设的缺陷分析模型中,并接收所述缺陷分析模型输出的缺陷分析结果;

发送模块,用于将所述待测试项目与所述缺陷分析结果关联存储至数据库,同时将所述缺陷分析结果发送至所述客户端。

一种计算机设备,包括存储器、处理器和存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机可读指令,所述处理器执行所述计算机可读指令时实现上述项目测试缺陷分析方法。

一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质存储有计算机可读指令,所述计算机可读指令被处理器执行时实现上述项目测试缺陷分析方法。

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