[发明专利]平板探测器全视野自动曝光检测方法以及图像采集装置在审

专利信息
申请号: 202010443172.1 申请日: 2020-05-22
公开(公告)号: CN111616726A 公开(公告)日: 2020-09-04
发明(设计)人: 冯岩河 申请(专利权)人: 上海昊博影像科技有限公司
主分类号: A61B6/00 分类号: A61B6/00
代理公司: 广州市越秀区哲力专利商标事务所(普通合伙) 44288 代理人: 曾令军
地址: 201114 上海市闵*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 平板 探测器 视野 自动 曝光 检测 方法 以及 图像 采集 装置
【说明书】:

发明提供一种平板探测器全视野自动曝光检测方法以及图像采集装置,该检测方法包括:S101:平板探测器在未曝光时以固定周期采集图像数据,并将图像数据以行为单位进行保存;S102:判断图像数据对应的图像的帧数和对应的行数是否均大于一,若是,则执行S103,若否,则执行S101;S103:获取图像数据与上一行图像数据以及上一帧图像的对应行图像数据的像素值的差值,判断差值是否大于预设阈值,若是,则执行S104,若否,则执行S101;S104:确认发生曝光,并将采集图像数据的时刻确定为发生曝光的时刻。本发明通过平板探测器采集的图像数据确定曝光发生的时刻,用户无需关注高压发生器的接口时序,从而能够快速使用,加快了产品的开发进度,满足了用户的需求。

技术领域

本发明涉及图像采集领域,尤其涉及一种平板探测器全视野自动曝光检测方法以及图像采集装置。

背景技术

数字化X射线摄影(Digital Radiography,简称DR),是上世纪90年代发展起来的X射线摄影新技术,以其更快的成像速度、更便捷的操作、更高的成像分辨率等显著优点,成为数字X射线摄影技术的主导方向,并得到世界各国的临床机构和影像学专家认可。DR的技术核心是平板探测器,平板探测器是一种精密且贵重的设备,对成像质量起着决定性的作用。平板探测器是DR系统中X射线的接收装置。在DR系统中,高压发生器和球管控制X射线的输出,X射线穿过物体并发生衰减,衰减后的X射线经过平板探测器后转变为可见光后,并经过光电转换变为电信号,再经模拟/数字转换器(Analog/Digital Converter,ADC)转为数字信号,输入到计算机处理。

X平板探测器曝光往往采用高压发生器上的X光开关信号控制平板探测器曝光。然而,这种方式往往要求平板探测器必须和高压发生器连接,使用不方便,灵活性较差。而且目前高压发生器厂家众多,且不同厂家的高压发生器接口也不一样,因此,用户在使用时要关注杂乱的高压发生器接口时序,进而在进行测试试用时难以快速的上手使用,延缓了整机产品的开发进度,不能满足用户的需求。

发明内容

为了克服现有技术的不足,本发明提出一种平板探测器全视野自动曝光检测方法以及图像采集装置,在高压发生器与平板探测器无连接的情况下,通过平板探测器采集的图像数据确定曝光发生的时刻,解决了平板探测器使用不方便、灵活性较差的问题,用户无需关注高压发生器的接口时序,从而能够快速上手使用,加快了整机产品的开发进度,满足了用户的需求。

为解决上述问题,本发明采用的一个技术方案为:一种平板探测器全视野自动曝光检测方法,平板探测器与高压发生器无连接,所述平板探测器全视野自动曝光检测方法包括:S101:平板探测器在未曝光时以固定周期采集图像数据,并将所述图像数据以行为单位进行保存;S102:判断所述图像数据对应的图像的帧数和对应的行数是否均大于一,若是,则执行S103,若否,则执行S101;S103:获取所述图像数据与上一行图像数据以及上一帧图像的对应行图像数据的像素值的差值,判断所述差值是否大于预设阈值,若是,则执行S104,若否,则执行S101;S104:确认发生曝光,并将采集所述图像数据的时刻确定为发生曝光的时刻。

进一步地,所述固定周期为300-500ms。

进一步地,所述平板探测器在未曝光时以固定周期采集图像数据的步骤具体包括:所述平板探测器在未曝光时处于自清空状态,并以固定周期采集图像数据。

进一步地,所述将采集所述图像数据的时刻确定为发生曝光的时刻的步骤之后还包括:所述平板探测器暂停自清空,将所述图像数据所在行确认为分界线,获取所述分界线两边的图像的像素值均值的差值,并根据所述差值对所述图像进行补偿。

进一步地,所述像素值均值为所述图像的灰度值的像素值均值。

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