[发明专利]酒瓶表面缺陷模型的评价方法、电子装置及存储介质在审

专利信息
申请号: 202010440230.5 申请日: 2020-05-22
公开(公告)号: CN111709455A 公开(公告)日: 2020-09-25
发明(设计)人: 邓辅秦;黄永深;黄杰文;冯华;李伟科 申请(专利权)人: 五邑大学
主分类号: G06K9/62 分类号: G06K9/62;G06K9/32;G06T7/00;G06N3/04;G01N21/88
代理公司: 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 代理人: 孙浩
地址: 529000 广*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 酒瓶 表面 缺陷 模型 评价 方法 电子 装置 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种酒瓶表面缺陷模型的评价方法,其特征在于,包括:

基于所获取到的酒瓶表面图片得到训练数据集;

将所述训练数据集输入到待评价模型,以获得表示所述酒瓶表面图片对应的表面缺陷的表面缺陷信息,所述酒瓶表面图片的表面缺陷信息包括类别信息和检测矩形框,所述类别信息表示所述表面缺陷的类别,所述检测矩形框表示所述表面缺陷的位置;

根据所述表面缺陷信息评价所述待评价模型。

2.根据权利要求1所述的一种酒瓶表面缺陷模型的评价方法,其特征在于,所述根据所述表面缺陷信息评价所述待评价模型包括以下步骤:

根据预设的标注矩形框计算IoU阈值;

根据所述检测矩形框与预设的所述标注矩形框计算IoU值;

根据所述IoU值和所述IoU阈值计算平均准确度AP值;

根据所述平均准确度AP值和所述表面缺陷的权重数值计算所述待评价模型的评分。

3.根据权利要求2所述的一种酒瓶表面缺陷模型的评价方法,其特征在于,所述根据预设的标注矩形框计算IoU阈值采用如下公式:

其中,IoUt为所述IoU阈值,m为预设的所述标注矩形框的短边的像素个数。

4.根据权利要求2所述的一种酒瓶表面缺陷模型的评价方法,其特征在于,所述根据所述平均准确度AP值和所述表面缺陷的权重数值计算所述待评价模型的评分采用如下公式:

其中,score为所述评分,i为所述表面缺陷的类别下标数值,c为所述训练数据集对应的总类别数,ki为第i类所述表面缺陷的所述权重数值,APi为第i类所述表面缺陷的所述平均准确度AP值。

5.根据权利要求1所述的一种酒瓶表面缺陷模型的评价方法,其特征在于,所述酒瓶表面图片包含至少一个所述表面缺陷。

6.一种电子装置,包括:存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在处理器上运行的计算机程序,其特征在于:所述处理器执行所述程序时实现如权利要求1至5中任一项所述的酒瓶表面缺陷模型的评价方法。

7.计算机可读存储介质,存储有计算机可执行指令,其特征在于:所述计算机可执行指令用于执行如权利要求1至5中任一项所述的酒瓶表面缺陷模型的评价方法。

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