[发明专利]一种自动设定不良品标记的方法

说明书

本发明提供一种自动设定不良品标记的方法，包括以下步骤：S1：不良品集中：由人工将不同生产线上的不良品集中收容于收容盒中；S2：不良品资料调取：查询不良品资料是否完整，资料完整则调取资料进行，并进行下一步，否则进行移动隔离；S3：不良品检测：抽取不良品图样，与合格品对比，是合格品则直达S6步骤，否则进入下一步；S4：标志设定：设定拒收的标志，并检测是否完整，不完整则重新设定；S5：收容盒检测：检测收容盒是否还有残余，是则重回S2，否则进行下一步；S6：不良品复位：进行不良品的数据登记，同时将所有样品返回原位；本发明避免了因为标记不规范导致无法识别或者人工标记位置错误的情况，同时降低了人力成本，提高了工作效率。

技术领域

本发明主要涉及产品标记领域，尤其涉及一种自动设定不良品标记的方法。

背景技术

在半导体产品的生产过程中，操作人员需人为进行三处不良标记，大批量生产通常会有1-2张基板上出现大面积报废的现象。操作员需要花费大量的时间与人力进行拒收标记，且人为标记很容易出现标记不规范，标记深浅不一致甚至是标记的位置错误等问题，为后期处理带来了极大的麻烦。

发明内容

针对现有技术的上述缺陷，本发明提供一种自动设定不良品标记的方法，包括以下步骤:

S1：不良品集中：由人工将不同生产线上的不良品集中收容于收容盒中；

S2：不良品资料调取：查询不良品资料是否完整，资料完整则调取资料进行，并进行下一步，否则进行移动隔离；

S3：不良品检测：抽取不良品图样，与合格品图样对比，是合格品则直达S6步骤，否则进入下一步；

S4：标志设定：设定拒收的标志，并检测是否完整，不完整则重新设定；

S5：收容盒检测：检测收容盒是否还有残余，是则重回S2，否则进行下一步；

S6：不良品复位：进行不良品的数据登记，同时将所有样品返回原位。

优选的，所述步骤S1中，开始步骤由人工操作。

优选的，所述步骤S2中的资料包括三处不良品的图样，产品编号，位置信息和加工记录。

优选的，所述步骤S3中，合格品图样为提前设定输入的清晰完整图样。

优选的，所述步骤S4中，设定拒收的标志以镭射的方式进行。

优选的，所述步骤S5中，收容盒数据提前录入系统。

优选的，所述步骤S6中，不良品数据登记后，会录入系统。

本发明的有益效果：避免了因为标记不规范导致无法识别或者人工标记位置错误，导致后续流程出错的情况；同时减少了批量报废后大规模标记时浪费的时间与人力，达到了降低了人力成本和提高了工作效率的目的。

附图说明

图1为一种自动设定不良品标记的方法的流程示意图；

具体实施方式

为了使本技术领域人员更好地理解本发明的技术方案，并使本发明的上述特征、目的以及优点更加清晰易懂，下面结合实施例对本发明做进一步的说明。实施例仅用于说明本发明而不用于限制本发明的范围。

如图1所示可知，本发明包括有：以下步骤:

S1：不良品集中：由人工将不同生产线上的不良品集中收容于收容盒中；

S2：不良品资料调取：查询不良品资料是否完整，资料完整则调取资料进行，并进行下一步，否则进行移动隔离；

S3：不良品检测：抽取不良品图样，与合格品图样对比，是合格品则直达S6步骤，否则进入下一步；