[发明专利]缺陷映射方法有效

专利信息
申请号: 202010437360.3 申请日: 2020-05-21
公开(公告)号: CN111339220B 公开(公告)日: 2020-08-28
发明(设计)人: 彭其栋;张孟;王四平;周凯;庞凤江;王双桥 申请(专利权)人: 深圳新视智科技术有限公司
主分类号: G06F16/28 分类号: G06F16/28
代理公司: 深圳市中科创为专利代理有限公司 44384 代理人: 宋鹏跃
地址: 518000 广东省深圳市罗湖区莲*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 缺陷 映射 方法
【说明书】:

发明涉及缺陷映射技术领域,尤其涉及一种缺陷映射方法,包括如下步骤:步骤S1:对mysql数据库的版本进行检测;步骤S2:利用版本符合的mysql数据库创建用于存储缺陷数据的内存表,所述内存表包含缺陷数据对应位置的坐标信息;步骤S3:对与缺陷数据对应的字段创建索引;步骤S4:将包含明场缺陷及暗场缺陷的缺陷数据存入内存表中;步骤S5:确定明场缺陷与暗场缺陷中缺陷之间距离;步骤S6:根据距离判断缺陷是否处于同一位置;步骤S7:对处于同一位置的两个缺陷做缺陷映射。通过运用mysql数据库实现映射,在缺陷映射中相比于遍历对比的方式具有更快的映射速度,提升了缺陷检测的效率,有利于增大产品质量检测的速度。

技术领域

本发明涉及缺陷映射技术领域,尤其涉及一种缺陷映射方法。

背景技术

在现有的缺陷映射方案中,一般是对各个分类中的缺陷进行遍历对比,在确定缺陷是处于同一位置之后对两个缺陷进行映射,然后通过预先设定的逻辑判断其是否为真正的缺陷。在处理过程中由于处理速度较慢,较为影响缺陷检测效率,因此,如何克服目前缺陷映射方案中处理速度较慢、影响缺陷检测效率的问题,便成了所要解决的重点。

发明内容

为克服上述的技术问题,本发明提供了一种缺陷映射方法。

本发明解决技术问题的方案是提供一种缺陷映射方法,包括如下步骤:

步骤S1:对mysql数据库的版本进行检测;

步骤S2:利用版本符合的mysql数据库创建用于存储缺陷数据的内存表,所述内存表包含缺陷数据对应位置的坐标信息;

步骤S3:对与缺陷数据对应的字段创建索引;

步骤S4:将包含明场缺陷及暗场缺陷的缺陷数据存入内存表中;

步骤S5:确定明场缺陷与暗场缺陷中缺陷之间距离;

步骤S6:根据距离判断缺陷是否处于同一位置;

步骤S7:对处于同一位置的两个缺陷做缺陷映射。

优选地,所述步骤S1包括如下步骤:

步骤S11:检测mysql数据库的版本为5.7及以上版本,认定为版本符合的mysql数据库;

步骤S12:检测mysql数据库的版本为5.7以下的版本,认定为版本不符的mysql数据库。

优选地,所述步骤S12包括如下步骤:

步骤S121:对认定为版本不符的mysql数据库进行版本更新,使mysql数据库的版本升级到5.7及以上版本。

优选地,步骤S5包括如下步骤:

步骤S51:对包含明场缺陷与暗场缺陷的缺陷数据做交叉连接;

步骤S52:通过mysql数据库中求距离的函数st_distance确定明场缺陷与暗场缺陷中缺陷之间的距离。

优选地,步骤S6还包括如下步骤:

步骤S61:判断为处于同一位置,对缺陷进行映射生成新缺陷;

步骤S62:判断为不处于同一位置,则结束。

相对于现有技术,本发明的缺陷映射方法具有如下优点:

通过运用mysql数据库实现映射,在缺陷映射中相比于遍历对比的方式具有更快的映射速度,提升了缺陷检测的效率,有利于增大产品质量检测的速度;通过建立包含有缺陷数据对应的内存表及创建与缺陷数据对应的字段的索引,有利于后续利用求距离的函数st_distance快速确定缺陷之间的距离。

附图说明

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