[发明专利]远端干扰检测方法、装置及存储介质

权利要求书

1.一种远端干扰检测方法，其特征在于，包括：

根据天线阵的天线总数和预配置的一个天线子集所包含的天线数，计算一个天线遍历周期内包含的检测时机数；

确定天线子集图案和遍历方式，并计算一个天线遍历周期内的每个检测时机对应的需要检测的天线子集，所述天线子集根据天线子集内的每根天线索引确定；

基于所述每个检测时机对应的需要检测的天线子集，按照所述天线子集图案和遍历方式完成多天线遍历；

其中，所述天线遍历周期为遍历检测完一个天线阵内所有天线的时间周期，所述检测时机为完成检测窗口内连续检测的时间点；

所述天线子集图案和遍历方式需要满足以下两个条件：天线阵内的每根天线在一个检测周期内可以等概率遍历到；用于检测的天线子集可以等概率遍历到；其中，检测周期为检测完所有远端干扰源所需的时间；一个检测周期包含多个天线遍历周期。

2.根据权利要求1所述的远端干扰检测方法，其特征在于，所述天线子集图案和遍历方式具体为：

第一种图案和遍历方式：等间距分布的天线子集图案且遍历步长为1的遍历方式；或者，

第二种图案和遍历方式：连续分布的天线子集图案且遍历步长为所述预配置的一个天线子集所包含的天线数的遍历方式；或者，

所述第一种图案和遍历方式与所述第二种图案和遍历方式，在检测周期内交替循环进行。

3.根据权利要求2所述的远端干扰检测方法，其特征在于，所述确定天线子集图案和遍历方式，并计算一个天线遍历周期内的每个检测时机对应的需要检测的天线子集，所述天线子集根据天线子集内的每根天线索引确定，具体为：

若确定采用等间距分布的天线子集图案且遍历步长为1的遍历方式，则利用如下公式计算一个天线遍历周期内的每个检测时机对应的需要检测的天线子集内的每根天线索引：

则确定的天线子集为：

其中，为天线子集内第i根天线在天线阵内的天线索引号；N_do为一个天线遍历周期内包含的检测时机数；n_do为一个检测周期内的检测时机索引；n₀为一个检测周期内天线子集的起始偏移量，n₀由如下公式计算得到：

n₀＝(n_m·N_dp+n_dp)mod N_do

其中，n_m为监测周期索引；n_dp为监测周期内的检测周期索引；N_dp为一个监测周期内包含的检测周期数；

其中，监测周期为检测周期的上级周期，检测周期为天线遍历周期的上级周期。

4.根据权利要求2所述的远端干扰检测方法，其特征在于，所述确定天线子集图案和遍历方式，并计算一个天线遍历周期内的每个检测时机对应的需要检测的天线子集，所述天线子集根据天线子集内的每根天线索引确定，具体为：

若确定采用连续分布的天线子集图案且遍历步长为所述预配置的一个天线子集所包含的天线数的遍历方式，则利用如下公式计算一个天线遍历周期内的每个检测时机对应的需要检测的天线子集内的每根天线索引：

则确定的天线子集为：

其中，为天线子集内第i根天线在天线阵内的天线索引号；N_do为一个天线遍历周期内包含的检测时机数；n_do为一个检测周期内的检测时机索引；n₀为一个检测周期内天线子集的起始偏移量，n₀由如下公式计算得到：

n₀＝(n_m·N_dp+n_dp)mod N_do

其中，n_m为监测周期索引；n_dp为监测周期内的检测周期索引；N_dp为一个监测周期内包含的检测周期数；

为天线阵的天线总数。