[发明专利]一种共同缺陷判定方法及判定装置

权利要求书

1.一种共同缺陷的判定方法，其特征在于，包括以下步骤：

提供若干个待检测的板体，识别各个板体上的缺陷；

将位于不同板体上的缺陷，两两配成缺陷对进行位置差异比对，以确保位于不同板体上的任意两个缺陷之间均能进行比对，判断各个缺陷对的位置差异是否满足预设的位置差异要求；

若无一缺陷对的位置差异满足预设的位置差异要求，则判定各个板体之间未发生共同缺陷；

若有缺陷对的位置差异满足预设的位置差异要求，则将对应缺陷对中的两个缺陷进行灰度和形态的比对；

对于位置差异满足预设的位置差异要求的缺陷对，若灰度差异值满足预设的灰度差异要求，并且形态差异值满足预设的形态差异要求，则判定各个板体之间发生共同缺陷。

2.根据权利要求1所述共同缺陷的判定方法，其特征在于，所述识别各个板体上的缺陷，包括如下步骤：

对各个板体上需要检测的表面进行扫描拍照，获得各个板体的检测图像；

对所述检测图像进行识别，以检测出各个板体上的缺陷。

3.根据权利要求2所述共同缺陷的判定方法，其特征在于，所述识别各个板体上的缺陷，还包括步骤：在检测出各个板体上的缺陷之后，获取各个缺陷的数据信息。

4.根据权利要求3所述共同缺陷的判定方法，其特征在于，所述获取各个缺陷的数据信息，包括：获取各个缺陷的灰度值。

5.根据权利要求3所述共同缺陷的判定方法，其特征在于，所述获取各个缺陷的数据信息，还包括：获取各个缺陷的位置和形态信息，包括以下步骤：

以各个板体相邻的两条边分别作为X轴和Y轴来建立直角坐标系，且各个板体的X轴和Y轴相对应；

获取各个缺陷在对应板体上的坐标；

根据各个缺陷的坐标，获取各个缺陷在X轴方向上的长度、在Y轴方向上的宽度以及面积大小。

6.根据权利要求5所述共同缺陷的判定方法，其特征在于，所述判断各个缺陷对的位置差异是否满足预设的位置差异要求，包括如下步骤：

根据缺陷对中两个缺陷的坐标值，计算对应两个缺陷之间的位置差异值；

将缺陷对的位置差异值与预设的距离值Dis进行比对；

根据比对结果，缺陷对的位置差异值处于[0，Dis]的范围内，则判定缺陷对之间的位置差异是否满足预设的位置差异要求。

7.根据权利要求5或6中所述共同缺陷的判定方法，其特征在于，所述若有缺陷对的位置差异满足预设的位置差异要求，则将对应缺陷对中的两个缺陷进行灰度和形态的比对，包括如下步骤：

预设灰度差异值为Dg，在X轴方向上的长度差异值为Dx，在Y轴方向上的宽度差异值为Dy，面积大小的差异值Ds；

计算对应缺陷对中的两个缺陷的灰度差异值，在X轴方向上的长度差异值，在Y轴方向上的宽度差异值，以及面积大小的差异值；

将计算获得的灰度差异值、在X轴方向上的长度差异值、在Y轴方向上的宽度差异值、以及面积大小的差异值分别与Dg、Dx、Dy以及Ds比较大小。

8.根据权利要求7所述共同缺陷的判定方法，其特征在于，所述对于位置差异满足预设的位置差异要求的缺陷对，若灰度差异值满足预设的灰度差异要求，并且形态差异值满足预设的形态差异要求，则判定各个板体之间发生共同缺陷，具体为：对于位置差异满足预设的位置差异要求的缺陷对，灰度差异值处于[0，Dg]的范围内，且在X轴方向上长度的差异值处于[0，Dx]的范围内，且在Y轴方向上宽度的差异值处于[0，Dy]的范围内，且面积大小的差异值处于[0，Ds]的范围内，判定各个板体之间发生共同缺陷。