[发明专利]电阻测试电路及电阻测试方法在审

专利信息
申请号: 202010434821.1 申请日: 2020-05-21
公开(公告)号: CN113702710A 公开(公告)日: 2021-11-26
发明(设计)人: 周健 申请(专利权)人: 圣邦微电子(北京)股份有限公司
主分类号: G01R27/14 分类号: G01R27/14;G01R1/30
代理公司: 北京成创同维知识产权代理有限公司 11449 代理人: 蔡纯;张靖琳
地址: 100089 北京市海淀*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 电阻 测试 电路 方法
【权利要求书】:

1.一种电阻测试电路,用于测量被测电阻的阻值,其特征在于,所述电阻测试电路包括:

分压模块,包括串联于供电端与地之间的电流源、标准电阻和待测电阻;

第一测试模块,其输入端连接所述标准电阻的两端形成第一路径,根据所述标准电阻两端的电压生成第一测试电压;

第二测试模块,其输入端连接所述待测电阻的两端形成第二路径,根据所述待测电阻两端的电压生成第二测试电压;

第三测试模块,其输入端分别连接所述第一测试模块的输出端和所述第二测试模块的输出端,根据所述第一测试电压和所述第二测试电压生成第三测试电压,

其中,所述电流源用以提供测试电流,所述电阻测试电路根据所述标准电阻的阻值、所述第一测试电压和所述第三测试电压获得所述被测电阻的阻值。

2.根据权利要求1所述的电阻测试电路,其特征在于,所述第一测试模块包括第一放大器,所述第二测试模块包括第二放大器。

3.根据权利要求2所述的电阻测试电路,其特征在于,所述第一放大器和所述第二放大器的放大增益值相同或不同。

4.根据权利要求1所述的电阻测试电路,其特征在于,所述第三测试模块包括第三放大器。

5.根据权利要求1所述的电阻测试电路,其特征在于,所述第一放大器和所述第二放大器、和/或所述第三放大器为仪表放大器。

6.根据权利要求1所述的电阻测试电路,其特征在于,所述标准电阻为精密电阻。

7.一种电阻测试方法,用于测量被测电阻的阻值,其特征在于,包括:

在待测电阻与标准电阻的串联线路上施加预设的测试电流;

分别获取该预设测试电流下所述标准电阻两端的第一测试电压和所述待测电阻两端的第二测试电压;

根据所述第一测试电压和所述第二测试电压获得第三测试电压;

根据所述标准电阻的阻值、所述第一测试电压和所述第三测试电压获得所述被测电阻的阻值。

8.根据权利要求7所述的电阻测试方法,其特征在于,所述在标准电阻与待测电阻的串联线路上施加预设的测试电流后还包括:

获取生成该第三测试电压的第三测试模块的放大增益值。

9.根据权利要求7所述的电阻测试方法,其特征在于,生成所述第一测试电压的第一测试模块的放大增益值与生成所述第二测试电压的第二测试模块的放大增益值相同或不同。

10.根据权利要求7所述的电阻测试方法,其特征在于,所述根据所述标准电阻的阻值、所述第一测试电压和所述第三测试电压获得所述被测电阻的阻值包括:

根据所述标准电阻的阻值、所述第一测试电压、所述第三测试电压以及生成该第三测试电压的第三测试模块的放大增益值获得所述被测电阻的阻值。

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