[发明专利]一种融合拟合-移除和两阶段框架优点的拟合方法有效
| 申请号: | 202010433933.5 | 申请日: | 2020-05-21 |
| 公开(公告)号: | CN111612067B | 公开(公告)日: | 2023-06-02 |
| 发明(设计)人: | 赖桃桃;曾坤;李佐勇;肖国宝 | 申请(专利权)人: | 闽江学院 |
| 主分类号: | G06F18/25 | 分类号: | G06F18/25 |
| 代理公司: | 福州元创专利商标代理有限公司 35100 | 代理人: | 钱莉;蔡学俊 |
| 地址: | 350108 福建省*** | 国省代码: | 福建;35 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 融合 拟合 阶段 框架 优点 方法 | ||
1.一种融合拟合-移除和两阶段框架优点的拟合方法,其特征在于,包括以下步骤:
给定包含N个数据的图像输入数据其中N为自然数;指定图像输入数据中所包含的模型实例个数k并且令S'=S;
使用两阶段框架来同时地拟合S'中的多个模型实例的模型参数;
把已拟合的多个模型参数的内点从S'中移除;
重复上述步骤,直至已拟合的模型实例个数大于或等于k,从而从输入的图像数据中估计出k个模型实例的模型参数;
所述使用两阶段框架来同时地拟合S'中的多个模型实例的模型参数具体包括以下步骤:
S11:令S*=S';设置第一阈值b,第二阈值M以及内点比例阈值τ;
S12:在S*上执行一次基于贪婪搜索的数据采样以生成一个模型假设θ;
S13:判断当前的采样次数c是否小于第一阈值b或模型假设θ的内点比例是否大于内点比例阈值τ;若是,则将θ的内点从S*中移除;否则重置S*,令S*=S';
S14:判断当前的采样次数c是否小于第二阈值M,若是则返回S12,否则用所有已生成的模型假设进行拟合。
2.一种融合拟合-移除和两阶段框架优点的拟合系统,其特征在于,包括存储器与处理器,所述存储器上存储有能够被处理器运行的计算机程序指令,当处理器运行该计算机程序指令时,实现如权利要求1所述的方法。
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