[发明专利]一种芯片测试方法和装置有效
| 申请号： | 202010419859.1 | 申请日： | 2020-05-18 |
| 公开（公告）号： | CN111693847B | 公开（公告）日： | 2022-08-12 |
| 发明（设计）人： | 刘蕊丽;李紫金 | 申请（专利权）人： | 大唐微电子技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 | 代理人： | 张建秀;龙洪 |
| 地址： | 100094*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 测试 方法 装置 | ||
1.一种芯片测试方法，包括：
在检测到对芯片进行晶圆CP测试后，获取所述芯片用于输出测试向量的返回结果的输入输出IO端口的输出时延信息；
控制所述输出时延的数值减小；
按照减小后的输出时延，输出所述测试向量的返回结果。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，通过如下方式检测是否对芯片进行CP测试，包括：
对接收的信号的时序进行识别，得到时序信息，如果所述时序信息符合预先设置的测试时序，则确定启动对芯片进行CP测试；或者，
对预设的用于执行测试操作的输入输出IO端口进行检测，如果所述IO端口接收到信号，则确定启动对芯片进行CP测试。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述控制所述输出时延的数值减小，包括：
获取所述芯片在测试态的IO端口的驱动力的级别信息；
将所述IO端口的驱动力的级别信息调高。
4.根据权利要求1至3任一所述的方法，其特征在于，所述控制所述输出时延的数值减小，包括：
获取用于接收所述测试向量的返回结果的CP机台的工作频率；
按照所述工作频率，调整所述输出时延的大小。
5.一种芯片测试装置，包括：
获取模块，设置为在检测到对芯片进行CP测试后，获取所述芯片用于输出测试向量的返回结果的IO端口的输出时延信息；
控制模块，设置为控制所述输出时延的数值减小；
输出模块，设置为按照减小后的输出时延，输出所述测试向量的返回结果。
6.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述获取模块通过如下方式检测是否对芯片进行CP测试，包括：
对接收的信号的时序进行识别，得到时序信息，如果所述时序信息符合预先设置的测试时序，则确定启动对芯片进行CP测试；或者，
对预设的用于执行测试操作的输入输出IO端口进行检测，如果所述IO端口接收到信号，则确定启动对芯片进行CP测试。
7.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述控制模块包括：
第一获取单元，设置为获取所述芯片在测试态的IO端口的驱动力的级别信息；
调整单元，设置为将所述IO端口的驱动力的级别信息调高。
8.根据权利要求5至7任一所述的装置，其特征在于，所述控制模块包括：
第二获取单元，设置为获取用于接收所述测试向量的返回结果的CP机台的工作频率；
第二调整单元，设置为按照所述工作频率，调整所述输出时延的大小。
9.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质中存储有计算机程序，其中，所述计算机程序被设置为运行时执行所述权利要求1至4任一项中所述的方法。
10.一种电子装置，包括存储器和处理器，其特征在于，所述存储器中存储有计算机程序，所述处理器被设置为运行所述计算机程序以执行所述权利要求1至4任一项中所述的方法。
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