[发明专利]一种透明平板缺陷和屈光度变化检测系统及方法

说明书

本发明公开了一种透明平板缺陷及屈光度变化检测系统，包括亮场通道梯度光源、暗场通道光源、莫尔条纹光源及摄像装置；亮场通道梯度光源照射透明平板，摄像装置采集第一图像，所述第一图像检测透明平板内部缺陷和表面缺陷；暗场通道光源照射透明平板，摄像装置采集第二图像，并结合第一图像，检测出透明平板表面缺陷；莫尔条纹光源照射所述透明平板，摄像装置采集第三图像，根据第三图像中的莫尔条纹的变形程度推算透明平板的屈光度变化。本发明还公开了相应的检测方法。本检测系统和检测方法，能够检测透明平板的表面缺陷、内部缺陷和屈光度变化，检测结果准确，精度高，而且成本低廉。

技术领域

本发明属于物体缺陷及屈光度变化检测领域，具体涉及到一种透明平板缺陷和屈光度变化检测系统及方法。

背景技术

专利申请2018102203390公布了一种基于二维光照的透明平板缺陷检测装置及方法，装置包括：检测台，用于承载待检测的透明平板；检测台固定连接有照明装置、且两个照明装置分别位于检测台的相邻两侧；照明装置发射出的线性光源平行于透明平板，并穿过透明平板；在检测台的上方设置有图像采集装置，用于向下采集透明平板在通过照明装置的二维侧向照光之后的图像。方法包括：根据缺陷处的折射率与透明平板的折射率不同而产生全反射或折射，在图像处理阶段根据灰度值的变化梯度来确定缺陷的存在，由机器视觉技术进行快速高效处理判别。但是，此专利申请涉及到的装置和方法比较复杂，检测精度比较低。

发明内容

本发明提供了一种透明平板缺陷和屈光度变化检测装置，其目的在于简化透明平板缺陷和屈光度变化检测装置，提高透明平板的缺陷和屈光度变化检测精度。

本发明是这样的：

一种透明平板缺陷及屈光度变化检测系统，包括亮场通道梯度光源、暗场通道光源、莫尔条纹光源及摄像装置；所述亮场通道梯度光源照射透明平板，所述摄像装置采集第一图像，根据所述第一图像检测所述透明平板内部缺陷和表面缺陷；所述暗场通道光源照射透明平板，所述摄像装置采集第二图像，并结合所述第一图像，检测出所述透明平板表面缺陷；所述莫尔条纹光源照射所述透明平板，所述摄像装置采集第三图像，根据所述第三图像中的莫尔条纹的变形程度推算所述透明平板的屈光度变化。

进一步地：所述亮场通道梯度光源内设置有一片阴阳膜；所述亮场通道梯度光源和所述摄像装置成反射角位置布置；当所述亮场通道梯度光源发出的入射光照射到所述透明平板时并经所述透明平板反射时，反射光进入所述摄像装置，摄像装置里拍摄到的所述第一图像呈现为亮场，同时所述摄像装置聚焦的所述亮场通道梯度光源投影到所述透明平板表面的黑白交界处：若所述平板表面是均匀的，则所述第一图像也是均匀的；若所述平板内部有缺陷，所述第一图像会呈现以内核为中心的一黑一白的蝴蝶斑。

进一步地：当所述亮场梯度光源以一定角度入射所述透明平板，若所述第一图像出现有叠影，则表面缺陷在所述透明平板的入射光那一面；若所述第一图像没有叠影，则表面缺陷在所述透明平板的和入射光相对的另一面；

进一步地：所述暗场通道光源和所述摄像装置成大角度夹角；若所述第二图像是黑色，则表明所述透明平板内部无缺陷。

进一步地：所述莫尔条纹光源内部设置有两张黑白光栅膜，若所述透明平板的屈光度发生变化，则所述莫尔条纹会发生变形。

本发明还公布了一种透明平板缺陷及屈光度变化检测方法，包括如下步骤：

步骤1：用亮场通道梯度光源照射透明平板，用摄像装置采集第一图像，根据所述第一图像检测出所述透明平板内部缺陷和表面缺陷；

步骤2：用暗场通道光源照射所述透明平板，用所述摄像装置采集第二图像；根据所述第二图像并结合所述第一图像，检测出所述透明平板表面缺陷；

步骤3：用莫尔条纹光源照射所述透明平板，用所述摄像装置采集第三图像，根据所述第三图像中的莫尔条纹的变形程度推算所述透明平板的屈光度变化。