[发明专利]用于并行波形分析的测试和测量系统

说明书

本发明的技术领域涉及测试和测量系统，并且特别地涉及用于并行波形分析的测试和测量系统。一种用于并行波形分析的测试和测量系统获取在被测设备（DUT）上执行测试所得到的波形，并且至少部分并行地执行对在DUT上执行测试所得到的波形的相应分析。该系统还获取在DUT上利用示波器执行第一测试所得到的第一波形，并且与获取第二波形至少部分并行地执行对第一波形的分析。附加地，该系统在网络上使用多个测试装备的库存信息来跟踪多个测试资产，并且使得远程用户能够访问被存储在云计算系统上的装备日志以及对波形的相应分析的结果，以用于分析的执行。

技术领域

技术领域涉及测试和测量系统，并且特别地涉及用于并行波形分析的测试和测量系统。

发明内容

集成电路（硅芯片或“芯片”）的验证和测试包括一个处理，在该处理中，针对实验室设置中的所有功能正确性来测试芯片的制造设计。这可以使用被组装在测试板或参考板上的芯片，连同芯片被设计用于其的系统的其它组件来完成。目标是要验证客户在真正部署中最终可能具有的芯片的所有用例并且证明用于所有这些使用模型的设计合格。这样的验证也可以应用于其它类型半导体的测试，所述其它类型半导体诸如任何其它半导体，诸如砷化镓、磷化铟等。

然而，根据摩尔定律，随着新的半导体设计上的晶体管数量上的持续增加，硅芯片和其它类型的半导体的复杂性也迅速地增加。这种日益增加的复杂性一同带来了对如下的客户测试的不断增长的需求：验证下一代硬件，同时减少总体测试时间并增加测试吞吐量。特别地，随着硅芯片复杂性的增加，要测试的场景数量也随着每个场景的排列而增加。这为硅芯片和其它类型的半导体验证创建了非常大的挑战。例如，硅芯片验证在历史上依赖于用于调试、表征、符合性测试和在工厂进行测试的测试装备（例如，示波器、任意波形发生器（AWG）、任意函数发生器（AFG）、误码率测试器（BERT）等）。这种测试装备传统上执行两个高级任务。第一个任务是要在测试期间获取由示波器生成的波形，并且第二个任务是要使用数字信号处理（DSP）算法分析波形并验证模拟信号。常规地，这两项任务是按顺序完成的。特别地，常规示波器具有专用硬件来将波形获取到存储器中，所述波形然后由嵌入在示波器内的中央处理单元分析。由于任务是按顺序执行的，因此这由于要被验证和测试的硅芯片的复杂性增加而增加了总体测试时间。

因此，为了解决在上面提到的目前已知系统的技术问题和限制，本文中描述的系统和方法使将波形获取到存储器中和对所获取波形进行分析的上述任务分离。

在一个示例实施例中，本文中描述的系统和方法获取在被测设备（DUT）上执行测试所得到的波形，并且至少部分并行地执行对在DUT上执行测试所得到的波形的相应分析。本文中描述的系统和方法还可以获取在DUT上利用示波器执行第一测试所得到的第一波形，并且与获取在DUT上利用示波器执行第二测试所得到的第二波形至少部分并行地执行对第一波形的分析。这样的改进因此增加了测试吞吐量并减少了总体测试时间。

在一个示例实施例中，一种用于在测试和测量系统中测试被测设备（DUT）的方法包括：从DUT电子地获取在DUT上执行第一测试所得到的第一波形；响应于获取在DUT上执行第一测试所得到的第一波形：开始电子地分析在DUT上执行第一测试所得到的第一波形；以及在分析在DUT上执行第一测试所得到的第一波形的同时，开始电子地获取在DUT上执行第二测试所得到的来自DUT的第二波形。该方法进一步包括，响应于获取在DUT上执行第二测试所得到的第二波形：在分析在DUT上执行第一测试所得到的第一波形的同时，开始电子地分析在DUT上执行第二测试所得到的第二波形；以及开始电子地获取在DUT上执行第三测试所得到的第三波形。

根据各种实施例，非暂时性计算机可读存储介质具有存储在其上的计算机可执行指令，所述计算机可执行指令在由至少一个处理器执行时，使得所述至少一个处理器执行上述方法中的一个或多个。

附图说明

附图中的组件不一定相对于彼此成比例。贯穿若干个视图，相同的附图标记指定对应的部分；

图1是现有技术示波器波形获取和分析的时序图；