[发明专利]液晶显示模组的银浆导通检测方法及银浆导通检测系统

说明书

本发明公开一种液晶显示模组的银浆导通检测方法及银浆导通检测系统，该方法包括：根据液晶显示模组的抗静电指标及测试需求调整一电荷发生器的静电电压；液晶显示模组的FPC中的接地端子接地；液晶显示模组点亮；至少一次将电荷发生器的静电释放到液晶显示模组的显示屏的表面；观察显示屏的显示变化，得出银浆是否导通的检测结果。通过将电荷释放到液晶显示模组的显示屏表面，利用显示屏的显示变化，判断银浆是否导通，避免了传统方法中需物理接触银浆点进行检测的弊端，不会破坏银浆，且该银浆导通的检测可以与显示屏的其他功能性检测一起完成，大大节约了检测资源。本发明的银浆导通检测系统结构简单、成本低，通用于不同型号的液晶显示模组。

技术领域

本发明涉及液晶显示模组技术领域，尤其涉及液晶显示模组的银浆导通检测方法及银浆导通检测系统。

背景技术

在液晶显示模组中，一般通过点银浆而把液晶显示屏的上下玻璃导通，释放表面的静电，防止静电损坏液晶显示屏。银浆将液晶显示屏的上玻璃(即CF基板)与下玻璃(即Array基板)的接地线导通，实现静电释放，但如果液晶显示模组银浆阻值偏大或者银浆断开，则银浆失效，无法进行静电的导通及释放，此种情况则需要重新点银浆。目前对银浆导通的检测方法，一般使用万用表或者阻抗仪对银浆进行接触式检测。采用该方法在进行银浆导通检测时，用万用表笔或阻抗仪一端接触CF基板的银浆点，另一端接触到液晶显示模组的FPC(Flexible Printed Circuit)上漏铜处的接地点。通过读取万用表笔或阻抗仪的数值判断银浆是否合格。该方法存在以下弊端：

a)因为接触式检测，在检测时容易造成银浆接触点的损坏。银浆质软，即便用测试架接触银浆位置，也有损坏的可能。该物理接触的检测方法，可能会把原本导通的银浆，在万用表笔或阻抗仪接触后对银浆点造成损坏，而导致银浆失效。

b)接触检测的过程中存在测试笔损坏玻璃边角的可能。

C)需要一个岗位单独进行测试，耗时耗力。

发明内容

为解决以上存在的技术问题，本发明提供一种液晶显示模组的银浆导通检测方法及银浆导通检测系统。

本发明的技术方案如下：本发明提供了一种液晶显示模组的银浆导通检测方法，包括：

根据液晶显示模组的抗静电指标及测试需求调整一电荷发生器的静电电压；

液晶显示模组的FPC中的接地端子接地；

液晶显示模组点亮；

至少一次将电荷发生器的静电释放到液晶显示模组的显示屏的表面；

观察显示屏的显示变化，得出银浆是否导通的检测结果。

进一步地，将电荷发生器的静电释放到液晶显示屏的表面的次数为3-5次，每次静电释放进行0.8-1.2秒。

进一步地，所述静电电压在1-2kv之间。

进一步地，所述电荷发生器的静电释放到液晶显示模组的显示屏的中间区域的表面。

进一步地，所述液晶显示模组点亮后显示白色画面或彩色画面。

进一步地，所述显示屏的显示变化包括：

在进行静电释放中，所述显示屏上显示一色块，在静电释放后一定时间内，所述色块消失；

在进行静电释放中，所述显示屏上显示一色块，在静电释放后一定时间内，所述色块未消失或未完全消失。

进一步地，如色块在一定时间内消失，则判定检测结果为银浆导通良好；如色块在一定时间内未消失或未完全消失，则判定为银浆导通不良。

进一步地，所述一定时间为0-2秒。

本发明还提供一种银浆导通检测系统，包括：