[发明专利]样品研磨辅助装置及其研磨方法

说明书

本发明涉及一种样品研磨辅助装置，包括：用于辅助研磨机对样品进行打磨，样品研磨辅助装置包括：底座，底座的底部开设有研磨槽；调节螺杆，螺合连接于底座且端部置于研磨槽内，旋拧调节螺杆可调节调节螺杆位于研磨槽内部分的长度；以及载物台，设于调节螺杆位于研磨槽的端部且供放置样品，在对样品进行打磨时，通过旋拧调节螺杆以控制样品向研磨机移动的位移量从而实现控制样品的打磨精度，避免了研磨力度过大将样品的异常区域磨掉而无法对异常区域进行检测以及样品的表面研磨不均的问题。

技术领域

本发明涉及样品研磨技术领域，特指一种样品研磨辅助装置及其研磨方法。

背景技术

陶瓷电容(MLCC)作为应用最为广泛的基础元器件，随着技术不断进步、性能不断提高，已成为全球用量最大、发展最快的片式元器件之一，根据陶瓷电容(MLCC)产品的市场需求分类，其主要应用在军工类、工业类和消费类等领域，其中包括航空、航天、军用移动通讯设备，系统通讯设备、工业控制设备、医疗电子设备、汽车电子、笔记本电脑、电视机、电话机、普通手机、普通数码相机等。相对于军用、工业类MLCC产品需求而言，消费类产品市场需求最大。

随着电子科学技术的飞速发展，对MLCC产品的质量检测提出了严格的要求。样品由于过压容易导致内部电极烧融而产生微小异常，在样品内部产生裂纹、烧伤、损伤等的异常区域。通过对样品进行研磨使样品内部的异常区域露出，进而能够对样品的异常区域进行检测和研究，便于之后对产品进行改进。传统的手工研磨力度控制不均，容易造成研磨力度过大将样品的异常区域磨掉而无法对异常区域进行检测以及样品的表面研磨不均的问题。

因此，亟待需要提供一种可控制研磨的打磨量而精准的研磨至样品的异常区域的样品研磨辅助装置及其研磨方法以解决上述技术问题。

发明内容

本发明的目的在于克服现有技术的缺陷，提供一种样品研磨辅助装置，以解决现有的手工研磨存在力度控制不均、样品表面研磨不均以及研磨力度过大将样品的异常区域磨掉而无法对异常区域进行检测的问题。

为实现上述目的，本发明提供了一种样品研磨辅助装置，用于辅助研磨机对样品进行打磨，所述样品研磨辅助装置包括：

底座，所述底座的底部开设有研磨槽；

调节螺杆，螺合连接于所述底座且端部置于所述研磨槽内，旋拧所述调节螺杆可调节所述调节螺杆位于所述研磨槽内部分的长度；以及

载物台，设于所述调节螺杆位于所述研磨槽的端部且供放置样品，在对样品进行打磨时，通过旋拧所述调节螺杆以控制所述样品向所述研磨机移动的位移量从而实现控制样品的打磨精度。

本发明通过旋拧调节螺杆可调节调节螺杆位于研磨槽内部分的长度，在对样品进行打磨时，通过旋拧调节螺杆以控制样品向研磨机移动的位移量从而实现控制样品的打磨精度，根据研磨机移动的位移量能够控制研磨机的研磨量，进而能够更精确的控制对样品的研磨量，避免了研磨力度过大将样品的异常区域磨掉而无法对异常区域进行检测以及样品的表面研磨不均的问题。

本发明样品研磨辅助装置的进一步改进在于，还包括固设于所述调节螺杆远离所述载物台的一端的转盘；

所述转盘上设有刻度线；

所述转盘上设有轴承，所述轴承的外圈固定连接所述转盘，所述轴承的内圈对应所述刻度线固设有指针。

本发明样品研磨辅助装置的进一步改进在于，所述指针的一端向下弯折形成有一连接端，所述连接端插设固定于所述轴承的内圈。

本发明样品研磨辅助装置的进一步改进在于，还包括灌注形成于所述研磨槽内的环氧树脂胶结构，通过所述环氧树脂胶结构包裹位于所述载物台上的所述样品，旋拧所述调节螺杆时，所述调节螺杆推动所述载物台并带着所述样品及所述环氧树脂胶结构一起向着所述研磨机移动。