[发明专利]一种低介电、低损耗聚酰亚胺复合材料及制备方法与应用在审

专利信息
申请号: 202010367545.1 申请日: 2020-04-30
公开(公告)号: CN111393646A 公开(公告)日: 2020-07-10
发明(设计)人: 刘欢;李智;彭冲;田琰;林德宝;宋锡滨 申请(专利权)人: 上海国瓷新材料技术有限公司
主分类号: C08G73/10 分类号: C08G73/10;C08L79/08;C08K9/06;C08K7/26;C08J5/18
代理公司: 北京智桥联合知识产权代理事务所(普通合伙) 11560 代理人: 江莉莉
地址: 201108 上海*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 低介电 损耗 聚酰亚胺 复合材料 制备 方法 应用
【权利要求书】:

1.一种制备低介电、低损耗的聚酰亚胺复合材料的方法,其特征在于,包括如下步骤:

(1)取氨基硅烷改性剂,并依次加入介孔材料、反应溶剂和酸性溶液分散均匀,并于150-180℃进行水热反应;反应结束后,收集沉淀物经洗涤、干燥、焙烧,得到表面氨基修饰的氨基介孔材料,将其分散于有机溶剂中,备用;

(2)在保护气氛下,将所述含氨基介孔材料的有机溶剂加入至极性溶剂中,并加入有机酸酐单体,充分混匀进行反应,即得到含有氨基介孔材料与聚酰亚胺前体溶液的所需低介电、低损耗的聚酰亚胺复合材料。

2.根据权利要求1所述低介电、低损耗的聚酰亚胺复合材料的制备方法,其特征在于,所述步骤(1)中,所述介孔材料包括介孔KIT、FDU或MCM介孔材料。

3.根据权利要求1或2所述低介电、低损耗的聚酰亚胺复合材料的制备方法,其特征在于,所述步骤(1)中,所述氨基硅烷改性剂包括苯氨基甲基三甲基硅烷和/或苯氨基甲基三乙基硅烷。

4.根据权利要求1-3任一项所述低介电、低损耗的聚酰亚胺复合材料的制备方法,其特征在于,所述步骤(1)中,所述氨基硅烷改性剂、介孔材料、乙腈和稀硝酸溶液的摩尔比为0.1-0.3:0.8-1.2:0.3-0.7:0.05-0.15。

5.根据权利要求1-4任一项所述低介电、低损耗的聚酰亚胺复合材料的制备方法,其特征在于,所述步骤(1)中,所述焙烧步骤的温度为200-400℃。

6.根据权利要求1-5任一项所述低介电、低损耗的聚酰亚胺复合材料的制备方法,其特征在于,所述步骤(1)中,还包括将得到的所述表面氨基修饰的介孔材料进行砂磨至粒径为500-2000nm的步骤。

7.根据权利要求1-6任一项所述低介电、低损耗的聚酰亚胺复合材料的制备方法,其特征在于,所述步骤(1)中,所述有机溶剂包括甲醇、乙醇和/或丙醇,并控制所述氨基介孔材料在所述有机溶剂中的分散浓度为0.1-0.6mol/L。

8.根据权利要求1-7任一项所述低介电、低损耗的聚酰亚胺复合材料的制备方法,其特征在于,所述步骤(2)中,所述有机酸酐单体与所述含氨基介孔材料的质量比为3-4:1。

9.根据权利要求1-8任一项所述低介电、低损耗的聚酰亚胺复合材料的制备方法,其特征在于,所述步骤(2)中:所述有机酸酐单体包括苯四甲酸二酐、单醚四酸二酐、三苯双醚四甲酸二酐、联苯醚二酐、二苯甲酮四羧酸二酐的一种或几种的混合物;

所述极性溶剂包括N,N-二甲基乙酰胺、N,N-二甲基甲酰胺或N,N-二甲基丙酰胺。

10.由权利要求1-9任一项所述低介电、低损耗的聚酰亚胺复合材料经常规方法制备得到的低介电、低损耗的聚酰亚胺薄膜。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海国瓷新材料技术有限公司,未经上海国瓷新材料技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202010367545.1/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top