[发明专利]电容外观的检测方法及装置

权利要求书

1.一种电容外观的检测方法，其特征在于，包括：

获取电容的多张图像；

对所述多张图像进行分组，得到多组图像，其中，所述多组图像中的每一组图像均包括预定数量的图像；

对所述多组图像进行处理，得到多个处理结果；

根据所述多个处理结果判定所述电容是否为合格产品；

其中，所述对所述多组图像进行处理，得到多个处理结果，包括：

确定所述多组图像中每一组图像中的第一张图像；

对所述每一组图像中的第一张图像进行区域划分，并提取出所述每一组图像中的第一张图像的图像区域对应的图像顶部区域；

提取所述图像顶部区域的灰度值，并计算得到平均灰度值；

基于所述平均灰度值判定所述电容是否倒下或甩出；

若是，则对所述每一组图像中除第一张图像的其他图像进行区域划分，并对区域划分后的图像区域进行处理，得到所述多个处理结果；

若否，则生成报警信息。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取电容的多张图像，包括：

响应于电容检测指令，触发图像采集设备启动，以采集所述电容的多张图像。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对所述多张图像进行分组，得到多组图像，包括：

根据所述多张图像的数量，确定对所述多张图像进行分组时的组数；

基于所述多张图像的数量以及所述组数将所述多张图像平均分为所述多组图像。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对所述每一组图像中除第一张图像的其他图像进行区域划分，并对区域划分后的图像区域进行处理，得到所述多个处理结果，包括：

提取所述每一组图像的预定图像区域；

基于所述预定图像区域对所述电容进行边缘线检测，得到所述电容的边缘点的边缘坐标点；

确定所述预定图像区域中边缘点的距离；

将所述每一组图像中除第一张图像的其他图像区域与所述第一张图像进行做差处理，得到所述电容的尺寸数据；

基于所述边缘点坐标以及所述电容的尺寸数据得到所述多个处理结果。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述平均灰度值判定所述电容是否倒下或甩出，包括：

将所述平均灰度值与预设灰度值进行比对，得到比对结果；

若所述比对结果表示所述平均灰度值大于所述预设灰度值，则确定所述电容倒下或甩出；

若所述比对结果表示所述平均灰度值不大于所述预设灰度值，则确定所述电容未倒下或甩出。

6.一种电容外观的检测装置，其特征在于，包括：

获取单元，用于获取电容的多张图像；

分组单元，用于对所述多张图像进行分组，得到多组图像，其中，所述多组图像中的每一组图像均包括预定数量的图像；

处理单元，用于对所述多组图像进行处理，得到多个处理结果；

判定单元，用于根据所述多个处理结果判定所述电容是否为合格产品；

其中，所述分组单元，包括：第二确定模块，用于确定所述多组图像中每一组图像中的第一张图像；划分模块，用于对所述每一组图像中的第一张图像进行区域划分，并提取出所述每一组图像中的第一张图像的图像区域对应的图像顶部区域；提取模块，用于提取所述图像顶部区域的灰度值，并计算得到平均灰度值；判定模块，用于基于所述平均灰度值判定所述电容是否倒下或甩出；第一获取模块，用于在基于所述平均灰度值判定所述电容倒下或甩出，则对所述每一组图像中除第一张图像的其他图像进行区域划分，并对区域划分后的图像区域进行处理，得到所述多个处理结果；生成模块，用于在基于所述平均灰度值判定所述电容未倒下或甩出，则生成报警信息。

7.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质包括存储的程序，其中，所述程序执行权利要求1至5中任意一项所述的电容外观的检测方法。

8.一种处理器，其特征在于，所述处理器用于运行程序，其中，所述程序运行时执行权利要求1至5中任意一项所述的电容外观的检测方法。

9.一种电容外观的检测系统，其特征在于，包括：

存储器，与所述存储器耦合的处理器，所述存储器和所述处理器通过总线系统相通信；

所述存储器用于存储程序，其中，所述程序在被处理器执行时控制所述存储器所在设备执行权利要求1至5中任意一项所述的电容外观的检测方法；

所述处理器用于运行程序，其中，所述程序运行时执行权利要求1至5中任意一项所述的电容外观的检测方法。