[发明专利]用于确定工件倒角的倒角属性的方法和设备以及程序在审
| 申请号: | 202010352888.0 | 申请日: | 2020-04-28 |
| 公开(公告)号: | CN111912369A | 公开(公告)日: | 2020-11-10 |
| 发明(设计)人: | H.马勒;K.沃纳 | 申请(专利权)人: | 卡尔蔡司工业测量技术有限公司 |
| 主分类号: | G01B21/04 | 分类号: | G01B21/04;G01B21/22 |
| 代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 王蕊瑞 |
| 地址: | 德国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 用于 确定 工件 倒角 属性 方法 设备 以及 程序 | ||
本发明涉及用于确定工件倒角(1)的倒角属性的设备和方法,沿着至少第一测量路径(MB1)产生测量点(MP),该第一测量路径(MB1)延伸越过第一倒角边缘(3),为该第一测量路径(MB1)的这些测量点(MP)确定至少一个非适应补偿元素(9),根据该第一测量路径(MB1)的这些测量点(MP)与该至少一个补偿元素(9)之间的偏差来确定该第一倒角边缘(3)的空间位置,并且还涉及一种程序。
技术领域
本发明涉及用于确定工件倒角的倒角属性的方法和设备,并且还涉及程序。还描述了一种用于数据处理的设备。
背景技术
在测量工件时,例如作为质量控制的一部分,可能需要确定工件倒角的属性。因此,例如可以根据倒角属性来评估测试标准。因此,倒角属性可以形成测试参数。可以通过示例提到的属性是特别是倒角的在工件的坐标系中的空间位置、倒角宽度和倒角角度。
特别是在小尺寸倒角的情况下,测量(即产生测量点及其评估)是个难题,因为在这种倒角的情况下,沿着倒角的表面仅可以产生少量的测量点。还有一个问题是,倒角边缘的空间位置的位置公差可能大于真实倒角宽度,这同样会使测量更加困难。
WO 2017/121468 A1公开了用于指定要通过坐标测量机测量的工件的测量的规格数据的方法和设备,该文件公开了以特定倒角角度作为用于确定测试特征的属性的倒角。另外,该文件公开了包络曲线或包络面对测量结果的适应性。
发明内容
所解决的技术问题是提供用于确定工件倒角的倒角属性的方法和设备以及允许准确且可靠地确定倒角属性的程序。
该技术问题的解决方案是由具有下文所述的特征的主题来提供的。从下文中可以明显看出本发明的其他有利的配置。
提出了一种用于确定工件倒角的倒角属性的方法。上面已经说明了可以通过示例方式提到的倒角属性。不言而喻,然而,通过所提出的方法可以确定与所提到的属性不同的其他倒角属性。
在第一步骤(又可以称为测量步骤)中,沿着至少一个测量路径或轨迹产生测量点,该第一测量路径延伸越过第一倒角边缘。第一测量路径可以特别地具有预定长度。倒角边缘在此是指两个表面的交线,这些表面中的一个表面是倒角表面。另一表面可以特别是工件的另一表面,例如工件的圆柱形外表面、侧表面或底表面。在这种情况下,沿着工件的表面产生这些测量点。特别地,这些测量点的坐标因此表示工件的表面点的坐标。
在这种情况下,可以根据工件和/或倒角的先前已知的属性、特别是先前已知的空间位置来确定第一测量路径的空间路线。这可以在工件坐标系中进行。在这种情况下,先前已知的属性可以是工件的估计的、特别是计算的、另外特别是未测量的属性。例如,可以根据工件的结构信息、例如结构数据来确定预定属性。也可以根据工件在测量装置的坐标系中已经确定的或先前已知的空间位置来确定预定空间位置,该测量装置产生这些测量点。为此,可能需要在工件坐标系与测量装置坐标系(机器坐标系)之间进行坐标变换。在这种情况下,可以在配准步骤中确定此变换。
特别地,可以选择第一测量路径的起点和第一测量路径的终点,使得第一测量路径延伸越过第一倒角边缘。
用于产生这些测量点的测量装置可以特别是所谓的坐标测量装置,其也可以称为坐标测量机。测量装置可以包括用于产生这些测量点的触觉传感器或用于产生这些测量点的光学传感器。在这种情况下,对应的测量装置和传感器对于本领域技术人员而言从现有技术中是已知的。
该第一测量路径延伸越过倒角边缘可以特别是指第一测量路径不平行于倒角边缘。优选地,第一测量路径与第一倒角边缘之间的角度为90°。然而,可以想到,倒角边缘与测量路径之间的角度在0(不含)至180°(不含)的范围内、优选地在45°(不含)至135°(不含)的范围内。在这种情况下,可以选择属性、特别是第一测量路径的长度和/或位置和/或路线,使得第一测量路径延伸越过第一倒角边缘而没有延伸越过另一倒角边缘。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于卡尔蔡司工业测量技术有限公司,未经卡尔蔡司工业测量技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202010352888.0/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。





