[发明专利]高度差检测方法、装置、存储介质以及电子设备

权利要求书

1.一种高度差检测方法，其特征在于，应用于具有升降式摄像头的终端，所述终端包括中框以及前置支架，所述前置支架内设置有摄像头，所述方法用于对所述中框以及所述前置支架之间的高度差进行检测，所述方法包括：

控制测距装置测量所述前置支架中多个第一检测点与所述测距装置之间的第一相对距离；

控制所述测距装置测量所述中框中多个第二检测点与所述测距装置之间的第二相对距离，其中所述多个第二检测点与所述多个第一检测点一一对应；

若各所述第一相对距离与其对应的各所述第二相对距离之间的差值大于第一预设高度差，则确定所述前置支架与所述中框之间高度差不合格。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述多个第二检测点与所述多个第一检测点一一对应，包括：

所述第一检测点与所述第二检测点的数量相同；

一个所述第一检测点与距离其最近的一个所述第二检测点对应，各所述第一检测点与其对应的所述第二检测点之间的距离均为第一预设距离；

则所述各所述第一相对距离与其对应的各所述第二相对距离之间的差值，包括：

各所述第一检测点与所述测距装置之间的各所述第一相对距离，与各所述第一检测点对应的各所述第二检测点与所述测距装置之间的各所述第二相对距离之间的差值。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述控制测距装置测量所述前置支架中多个第一检测点与所述测距装置之间的第一相对距离之前，还包括：

通过水平检测装置获取所述终端的水平位移数据；

根据所述水平位移数据控制所述终端处于水平状态，以使得所述中框以及所述前置支架正对所述测距装置。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述控制测距装置测量所述前置支架中多个第一检测点与所述测距装置之间的第一相对距离之后，还包括：

若各所述第一相对距离之间的差值大于第二预设高度差，则确定所述前置支架的高度差不合格。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述控制所述测距装置测量所述中框中多个第二检测点与所述测距装置之间的第二相对距离之后，还包括：

若各所述第二相对距离之间的差值大于第三预设高度差，则确定所述中框的高度差不合格。

6.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述控制测距装置测量所述前置支架中多个第一检测点与所述测距装置之间的第一相对距离之前，还包括：

通过扫描识别装置获取所述中框以及所述前置支架的待测距部分的整体视图；

根据所述整体视图识别出所述前置支架的支架边缘；

将所述支架边缘的长度均匀分为多个子边缘，将所述前置支架中距离每个所述子边缘的中点第二预设距离的位置设置为所述第一检测点，其中，每个所述子边缘的中点对应一个第一检测点。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：将所述中框中距离所述第一检测点所述第一预设距离的位置设置为所述第二检测点。

8.一种高度差检测装置，其特征在于，应用于具有升降式摄像头的终端，所述终端包括中框以及前置支架，所述前置支架内设置有摄像头，所述装置用于对所述中框以及所述前置支架之间的高度差进行检测，所述装置包括：

第一测距模块，用于控制测距装置测量所述前置支架中多个第一检测点与所述测距装置之间的第一相对距离；

第二测距模块，用于控制所述测距装置测量所述中框中多个第二检测点与所述测距装置之间的第二相对距离，其中所述多个第二检测点与所述多个第一检测点一一对应；

判断模块，用于若各所述第一相对距离与其对应的各所述第二相对距离之间的差值大于第一预设高度差，则确定所述前置支架与所述中框之间高度差不合格。

9.一种计算机存储介质，其特征在于，所述计算机存储介质存储有多条指令，所述指令适于由处理器加载并执行如权利要求1～7任意一项的所述方法的步骤。

10.一种电子设备，其特征在于，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现权利要求1～7任一项所述方法的步骤；

所述电子设备还包括测距装置、水平检测装置以及扫描识别装置。