[发明专利]一种VGA测试治具及设备

权利要求书

1.一种VGA测试治具，其特征在于，应用于设有VGA接口的待测主板，包括：

设有探针、通过所述探针与所述VGA接口插接的插座，用于引出所述VGA接口的引脚信号；

包含铺设有与所述VGA接口的待测引脚对应的探针一一连接的信号走线的信号层、与所述插座共地的GND层的电路板，用于引出所述待测引脚的测试信号；

设于所述电路板上、与所述信号走线一一连接的混合测试接口，用于通过自身不同测试接口与不同测试装置一一匹配连接，以分别通过不同所述测试装置侦测到所述测试信号进行测试；

其中，所述混合测试接口包括：

SMA公头壳体；

套嵌于所述SMA公头壳体内的SMP母头壳体；

贯穿于所述SMP母头壳体底部的测试探针；

设于所述SMA公头壳体和所述SMP母头壳体之间的第一推拉装置，用于将所述SMP母头壳体从所述SMA公头壳体内推出或将所述SMP母头壳体收回所述SMA公头壳体内；

设于所述SMA公头壳体和所述测试探针之间的第二推拉装置，用于将所述测试探针从壳体内部推出或将所述测试探针收回壳体内部；

其中，所述第一推拉装置包括：

贯穿于所述SMA公头壳体侧面、可水平移动的第一拉杆；

设于所述SMA公头壳体内、与所述第一拉杆固定连接且斜坡表面设有第一滑轨的第一直三棱柱结构件；

固定于所述SMP母头壳体底部、与所述第一滑轨滑动式连接的第一固定结构件，用于通过所述第一直三棱柱结构件的水平移动带动自身在所述第一滑轨上滑动，以将所述SMP母头壳体推出或收回；

相应的，所述第二推拉装置包括：

贯穿于所述SMA公头壳体侧面、可水平移动的第二拉杆；

设于所述SMA公头壳体内、与所述第二拉杆固定连接且斜坡表面设有第二滑轨的第二直三棱柱结构件；

固定于所述测试探针底部、与所述第二滑轨滑动式连接的第二固定结构件，用于通过所述第二直三棱柱结构件的水平移动带动自身在所述第二滑轨上滑动，以将所述测试探针推出或收回。

2.如权利要求1所述的VGA测试治具，其特征在于，所述测试信号为多个；

相应的，所述混合测试接口包括：

分散设于所述电路板上、与多个所述测试信号一一对应的多个混合测试子接口。

3.如权利要求2所述的VGA测试治具，其特征在于，所述VGA测试治具还包括：

设于每个所述混合测试子接口旁侧的指示部，用于指示自身旁侧的混合测试子接口对应的具体测试信号。

4.如权利要求1所述的VGA测试治具，其特征在于，所述VGA测试治具还包括：

多信号输入端与所述信号走线一一连接、单信号输出端与所述混合测试接口对应连接的信号选通电路；

与所述信号选通电路连接的控制器，用于在接收到包含目标测试信号的测试指令时，控制所述信号选通电路选通所述目标测试信号对应的信号传输线路。

5.如权利要求4所述的VGA测试治具，其特征在于，所述VGA测试治具还包括：

设于所述电路板上、与所述控制器连接的操作按键；

相应的，所述控制器具体用于检测所述操作按键的当前按键状态，并根据预设状态信号对应关系确定与所述当前按键状态对应的目标测试信号，以控制所述信号选通电路选通所述目标测试信号对应的信号传输线路。

6.如权利要求1所述的VGA测试治具，其特征在于，所述VGA测试治具还包括：

设于所述电路板上，一端与具有阻抗匹配需求的信号走线连接、另一端与所述GND层连接的匹配电阻，用于抑制所述具有阻抗匹配需求的信号走线传输信号时造成的反射波干扰。

7.如权利要求1所述的VGA测试治具，其特征在于，所述测试信号包括R分量信号和/或G分量信号和/或B分量信号和/或SDA信号和/或SCL信号和/或Hsync信号和/或Vsync信号。

8.一种VGA测试设备，其特征在于，包括测试装置，还包括如权利要求1-7任一项所述的VGA测试治具。