[发明专利]电子设备及检测电子设备密封性的检测方法

权利要求书

1.一种检测电子设备密封性的检测方法，其特征在于，所述电子设备包括：

壳体；

显示屏，所述显示屏与所述壳体连接以共同限定出密封腔；

第一气压计，所述第一气压计设在所述密封腔内用于测量所述密封腔内气压；

主板，所述主板设在所述密封腔内，所述主板与所述显示屏和所述第一气压计连接；

第二气压计，所述第二气压计设在所述壳体上用于检测所述电子设备外的环境气压；

所述壳体的外壁面上设有安装槽，所述第二气压计设在所述安装槽内；

所述安装槽贯穿所述壳体，在所述壳体的外壁朝向述壳体的内壁的方向上，所述安装槽包括第一段和第二段，所述第一段的横截面积小于所述第二段的横截面积，所述第二气压计设在所述第二段内并封堵所述第二段，

所述检测方法包括：

提供一个检测装置，所述检测装置具有密闭腔室；

将待检测的所述电子设备放入所述密闭腔室内，向所述密闭腔室内充入一定量的气体以使所述密闭腔室内的气压高于所述密封腔内的气压；

待设定时间后，通过测量或读取所述第一气压计的读数并判断所述壳体和所述显示屏的密封性；

待所述设定时间后，读取所述第二气压计的读数并判断所述壳体和所述显示屏的密封性；

将所述电子设备放入检测装置所形成的密闭腔室内，此时所述第一气压计的度数为P0，向所述密闭腔室内充入气体以使所述密闭腔室内的气压高于所述密封腔内的气压，待设定时间后，所述第一气压计的读数为P1，所述第二气压计的读数P2，若P1-P0小于等于第一设定值且P2-P1大于第二设定值，则所述壳体和所述显示屏的密封性合格；若P1-P0大于第一设定值或P2-P1小于等于第二设定值，则所述壳体和所述显示屏的密封性不合格。

2.根据权利要求1所述的检测电子设备密封性的检测方法，其特征在于，在所述显示屏上读取所述第一气压计的读数。

3.根据权利要求1所述的检测电子设备密封性的检测方法，其特征在于，在所述显示屏上读取所述第二气压计的读数。

4.根据权利要求1所述的检测电子设备密封性的检测方法，其特征在于，所述主板上设有芯片，在所述壳体和所述显示屏密封合格时，所述芯片控制在所述显示屏显示第一标识，在所述壳体和所述显示屏密封不合格时，所述芯片控制在所述显示屏显示第二标识。

5.根据权利要求1所述的检测电子设备密封性的检测方法，其特征在于，所述主板上设有芯片，所述电子设备还包括报警装置，所述报警装置设在所述壳体上，所述报警装置与所述芯片连接，在所述壳体和所述显示屏密封不合格时，所述芯片控制所述报警装置发出报警提示。

6.根据权利要求1所述的检测电子设备密封性的检测方法，其特征在于，所述检测装置包括：

盒体；

盖体，所述盖体与所述盒体连接以共同限定出所述密闭腔室，所述盖体和所述盒体中的一个上设有充气口。

7.根据权利要求1所述的检测电子设备密封性的检测方法，其特征在于，所述第一气压计设在所述主板上。

8.根据权利要求1所述的检测电子设备密封性的检测方法，其特征在于，所述电子设备还包括：

密封圈，所述密封圈套设在所述第二气压计上且位于所述第二段的内周壁和所述第二气压计的外周壁之间。