[发明专利]一种无损检测装置、系统及方法在审
申请号: | 202010324615.5 | 申请日: | 2020-04-23 |
公开(公告)号: | CN111380914A | 公开(公告)日: | 2020-07-07 |
发明(设计)人: | 康宜华;冯搏 | 申请(专利权)人: | 华中科技大学无锡研究院 |
主分类号: | G01N25/72 | 分类号: | G01N25/72 |
代理公司: | 无锡市大为专利商标事务所(普通合伙) 32104 | 代理人: | 曹祖良;陈丽丽 |
地址: | 214174 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 无损 检测 装置 系统 方法 | ||
1. 一种无损检测装置,其特征在于,包括:直流磁化组件和热成像组件, 所述热成像组件设置在被测试件的一侧,所述被测试件穿过所述直流磁化组件设置,
所述直流磁化组件能够对所述被测试件进行磁化;
所述热成像组件能够向所述被测试件的表面发射脉冲激光束,并采集所述被测试件的表面热成像图像,以及将所述表面热成像图像发送至上位机,其中所述表面热成像图像能够显示所述直流磁化组件和所述热成像组件共同作用下所述被测试件表面的温度场分布。
2.根据权利要求1所述的无损检测装置,其特征在于,所述直流磁化组件包括磁化线圈和直流电源,所述磁化线圈与所述直流电源电连接,所述直流电源能够为所述磁化线圈提供设定电压,所述磁化线圈能够提供直流磁场,且能够在所述设定电压下对所述被测试件进行磁化,其中所述设定电压能够使得所述被测试件处于饱和状态。
3.根据权利要求2所述的无损检测装置,其特征在于,所述磁化线圈包括本体结构和设置在本体结构上的通孔,所述本体结构与所述直流电源电连接,所述通孔用于穿过所述被测试件。
4.根据权利要求1至3中任意一项所述的无损检测装置,其特征在于,所述热成像组件包括激光器和热成像仪,所述激光器和所述热成像仪均能够与上位机通信连接,所述激光器能够在所述上位机的控制下向所述被测试件的表面发射脉冲激光束,所述热成像仪能够采集所述被测试件的表面热成像图像,并将所述表面热成像图像发送至所述上位机。
5.一种无损检测系统,其特征在于,包括:上位机和权利要求1至6中任意一项所述的无损检测装置,所述上位机与所述无损检测装置中的热成像组件通信连接,所述热成像组件能够将采集到的被测试件的表面热成像图像发送至所述上位机,所述上位机能够对所述表面热成像图像进行图像处理得到处理结果。
6.根据权利要求5所述的无损检测系统,其特征在于,当所述处理结果为缺陷轮廓图像时,判定所述被测试件存在缺陷。
7.一种用于权利要求5或6所述的无损检测系统的无损检测方法,其特征在于,包括:
通过直流磁化组件对被测试件进行磁化;
通过热成像组件向被测试件的表面发射脉冲激光束,以及采集所述被测试件的表面热成像图像;
上位机对所述表面热成像图像进行处理,得到处理结果;
根据所述处理结果判断所述被测试件的检测结果。
8.根据权利要求7所述的无损检测方法,其特征在于,所述根据所述处理结果判断所述被测试件的检测结果,包括:
当所述处理结果为缺陷轮廓图像时,判定所述被测试件存在缺陷;
当所述处理结果为匀温度场图像时,判定所述被测试件正常。
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