[发明专利]寿命数据处理子系统及寿命补偿系统有效
申请号: | 202010323263.1 | 申请日: | 2020-04-22 |
公开(公告)号: | CN111462689B | 公开(公告)日: | 2021-07-06 |
发明(设计)人: | 王利民 | 申请(专利权)人: | 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 |
主分类号: | G09G3/3208 | 分类号: | G09G3/3208 |
代理公司: | 深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570 | 代理人: | 李新干 |
地址: | 518132 广东省深*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 寿命 数据处理 子系统 补偿 系统 | ||
本申请公开了一种寿命数据处理子系统,其包括侦测单元、寿命数据计算单元、随机存储单元、计时控制单元以及闪存单元;通过寿命数据计算单元将有机电致发光器件的第二分钟级寿命数据和小时级寿命数据存储在闪存单元,能够有效降低所需的存储带宽和存储空间。
技术领域
本申请涉及显示技术领域,尤其涉及有机电致发光器件寿命衰减技术领域,具体涉及一种寿命数据处理子系统及寿命补偿系统。
背景技术
当前,OLED(Organic Light-Emitting Diode,有机发光半导体)器件寿命补偿的方案主要分两种:一种为利用外补像素电路,例如,常见的3T1C像素电路,实现OLED器件特性漂移情况的侦测,进而生成补偿数据,但因需要特殊侦测IC(Integrated Circuit,集成电路)芯片配合像素设计实现,成本高,技术难度大;另一种方案为使用预设OLED器件寿命衰减模型和显示数据计数(Data Counting)来累计电流压力,估算OLED器件寿命衰减程度,从而获得补偿数据来实现OLED器件寿命补偿,成本低,实现难度小。
但是,后一种方案采用数据累计方式,来得出OLED器件衰减数据,这种数据累计方式需要将OLED器件的寿命数据存储在闪存存储器中,每次存储和读出OLED器件的寿命累计数据的位宽过大,导致其所需的存储带宽和存储空间均增大,且影响存储效率。
发明内容
本申请提供一种寿命数据处理子系统,解决的在闪存存储器中存取OLED器件寿命累计数据时,需要较大的存储带宽和存储空间的问题。
第一方面,本申请提供了一种寿命数据处理子系统,其包括侦测单元、寿命数据计算单元、随机存储单元、计时控制单元以及闪存单元;侦测单元,用于获取有机电致发光器件的灰度数据;寿命数据计算单元,与侦测单元的输出端连接,用于根据帧频和灰度数据计算及传输有机电致发光器件的微秒级寿命数据、秒钟级寿命数据以及第一分钟级寿命数据,并根据第一分钟级寿命数据计算及传输有机电致发光器件的第二分钟级寿命数据和小时级寿命数据;随机存储单元,与寿命数据计算单元连接,用于存储微秒级寿命数据、秒钟级寿命数据以及第一分钟级寿命数据;计时控制单元,与寿命数据计算单元连接,用于根据预设间隔时间控制第二分钟级寿命数据和小时级寿命数据的计算;以及闪存单元,与寿命数据计算单元连接,用于存储第二分钟级寿命数据和小时级寿命数据。
基于第一方面,在第一方面的第一种实施方式中,预设间隔时间不大于60分钟。
基于第一方面,在第一方面的第二种实施方式中,微秒级寿命数据为20位二进制数据。
基于第一方面,在第一方面的第三种实施方式中,秒钟级寿命数据为8位二进制数据。
基于第一方面,在第一方面的第四种实施方式中,第一分钟级寿命数据、第二分钟级寿命数据均为8位二进制数据。
基于第一方面,在第一方面的第五种实施方式中,小时级寿命数据为17位二进制数据。
基于第一方面,在第一方面的第六种实施方式中,预设间隔时间为30分钟。
基于第一方面,在第一方面的第七种实施方式中,随机存储单元为随机存取存储器。
基于第一方面,在第一方面的第八种实施方式中,闪存单元为快闪存储器。
第二方面,本申请提供了一种寿命补偿系统,其包括:上述任一实施方式中的寿命数据处理子系统,用于提供微秒级寿命数据、秒钟级寿命数据、第一分钟级寿命数据、第二分钟级寿命数据以及小时级寿命数据;衰减度计算子系统,与寿命数据处理子系统连接,用于根据微秒级寿命数据、秒钟级寿命数据、第一分钟级寿命数据、第二分钟级寿命数据以及小时级寿命数据计算有机电致发光器件的寿命数据,并根据寿命数据输出有机电致发光器件的衰减度数据;以及补偿输出子系统,与衰减度计算子系统连接,用于根据衰减度数据补偿并输出灰度数据。
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