[发明专利]检测装置以及检测方法

说明书

本发明提供了检测装置以及检测方法，用于对多个微型发光器件进行电致发光检测，微型发光器件包括设于相同侧的第一电极和第二电极，检测装置包括：基板、设于基板上的多个检测部、信号产生器和位于多个微型发光器件的至少一侧的光学器件，检测部包括设于相同侧第一检测电极和第二检测电极，每一检测部的第一检测电极、第二检测电极分别和对应的微型发光器件的第一电极、第二电极电性连接，信号产生器向每一检测部的第一检测电极和第二检测电极提供相异的电信号，使得多个微型发光器件发光，光学器件根据多个微型发光器件的发光情况获取相应的光学参数；该方案可以快速且准确地对多个微型发光器件进行电致发光检测。

技术领域

本发明涉及显示技术领域，尤其涉及显示器件的制造，具体涉及检测装置以及检测方法。

背景技术

Micro LED(Micro Light Emitting Diode，微型发光二极管)技术，即在一个芯片上集成的高密度微小尺寸的LED阵列的技术，利用该技术制备的Micro LED显示屏具备高亮度、高色域以及高解析度等优点。

然而，Micro LED显示屏中的Micro LED芯片数量众多、且每一Micro LED芯片尺寸极小，难以快速且准确地对全部Micro LED芯片进行电致发光检测，以计算Micro LED显示屏中的Micro LED芯片的良品率。

综上所述，有必要提供可以快速且准确地对Micro LED显示屏中的全部Micro LED芯片进行电致发光检测的检测装置以及检测方法。

发明内容

本发明的目的在于提供检测装置以及检测方法，所述检测装置中的每一个检测部的第一检测电极、第二检测电极分别和对应的微型发光器件的第一电极、第二电极电性连接，通过多个检测部同时对多个微型发光器件进行电致发光检测，解决了现有技术中难以快速且准确地对Micro LED显示屏中的全部Micro LED芯片进行电致发光检测的问题。

本发明实施例提供检测装置，所述检测装置用于对多个微型发光器件进行电致发光检测，所述多个微型发光器件中的每一个微型发光器件包括设于相同侧的第一电极和第二电极，所述检测装置包括：

基板；

多个检测部，所述多个检测部设于所述基板上，所述多个检测部用于对所述多个微型发光器件进行电致发光检测，所述多个检测部中的每一个检测部包括设于相同侧第一检测电极和第二检测电极，当所述多个检测部对所述多个微型发光器件进行电致发光检测时，所述多个检测部中的每一个检测部的第一检测电极和对应的微型发光器件的第一电极电性连接，所述多个检测部中的每一个检测部的第二检测电极和对应的微型发光器件中的第二电极电性连接；

信号产生器，当所述检测装置对所述多个微型发光器件进行电致发光检测时，所述信号产生器向所述多个检测部中的每一个检测部的第一检测电极和第二检测电极提供相异的电信号，使得所述多个微型发光器件发光；

光学器件，所述光学器件位于所述多个微型发光器件的至少一侧，所述光学器件用于根据所述多个微型发光器件的发光情况，以获取所述多个微型发光器件的光学参数。

在一实施例中，所述多个检测部中的每一个检测部的第一检测电极和对应的微型发光器件的第一电极相对设置，所述多个检测部中的每一个检测部的第二检测电极和对应的微型发光器件的第二电极相对设置。

在一实施例中，所述多个检测部中的每一个检测部的第一检测电极和第二检测电极之间具有间隙，使得所述多个检测部中的每一个检测部的第一检测电极和第二检测电极之间绝缘。

在一实施例中，所述间隙中设有阻挡部，使得所述多个检测部中的每一个检测部的第一检测电极和第二检测电极之间绝缘。

在一实施例中，所述多个检测部中的每一个检测部还包括：