[发明专利]一种超快速测频方法

说明书

本发明提供了一种超快速测频方法，包括以下步骤：构建N个采样点的测频查找表；采用高速AD进行信号采集和单比特量化；对系统收集的采样点进行滑动，对每次滑动后收集的N个采样点作为地址，在查找表中获取采样点的信号频率；对查表获取的信号频率进行平均，作为测量结果。

技术领域

本发明涉及一种电子对抗技术，特别是一种超快速测频方法。

背景技术

如何快速对目标频率进行快速测量是电子对抗技术领域内的关键技术，随着电子对抗技术的不断发展，在电子战接收机领域内的新技术、新方法层出不穷，研究人员提出了具有高处理带宽、高处理速度的单比特测频方法，单比特测频方法基于单比特接收机技术，该技术通过采用位数较少的ADC、简化DFT运算的核函数e^jωn(使其值为±1、±j)的方式，从而简化了乘法运算，提高了运算速度。但上述方法还是无法避免大量的加减法运算，影响了处理的实时性。

发明内容

本发明的目的在于提供一种超快速测频方法。

实现本发明目的的技术方案为：一种超快速测频方法，包括以下步骤：

构建N个采样点的测频查找表；采用高速AD进行信号采集和单比特量化；对系统收集的采样点进行滑动，对每次滑动后收集的N个采样点作为地址，在查找表中获取采样点的信号频率；对查表获取的信号频率进行平均，作为测量结果f_out。

进一步地，测频查找表的构建具体包括以下步骤：

步骤11，对N点二进制序列进行去直流，即将0值转换为-1，然后对序列进行补零，形成长度为2^a(a为正整数)的序列s(n)；

步骤12，对序列s(n)进行FFT运算，求出信号频谱S(k)，在S(k)中横坐标为[0,2^a-1]的范围内寻找幅度最大点的位置k_max，并根据采样频率f_s与FFT点数的相应关系，计算出测频结果(第一奈奎斯特区)f_out；

步骤13，遍历所有N点二进制序列，以N点二进制序列为地址，测频结果为内容，生成测频查找表。

进一步地，

进一步地，其中M为滑动的次数，k_imax为第i次滑动后寻找幅度最大点的位置。

进一步地，经处理后的待测单比特信号为

其中，s(t)为输入的射频信号。

本发明与现有技术相比，其显著优点为：(1)通过查表的方式可以在极短的时间内给出采集信号的频率测量结果；(2)配合微波分频器可快速测量高频信号的频率；(3)利用快速测频结果引导接收机其他组件或算法模块工作。

下面结合附图对本发明作进一步详细描述。

附图说明

图1为一种超快速测频方法流程图。

图2为高速AD采样序列与查找表地址对应关系示例示意图。

图3为采样滑动处理示意图。

图4为实例测频仿真结果示意图。

具体实施方式

结合图1和图2，本发明的一种超快速测频方法，包括以下步骤：

步骤1，构建N个采样点的测频查找表；

步骤2，采用高速AD进行信号采集和单比特量化，假设输入的射频信号可表示为s(t)，经处理后的待测单比特信号可表示为