[发明专利]电流检测方法和电流检测装置在审
| 申请号： | 202010313758.6 | 申请日： | 2020-04-20 |
| 公开（公告）号： | CN113533819A | 公开（公告）日： | 2021-10-22 |
| 发明（设计）人： | 方昀 | 申请（专利权）人： | 施耐德电气（中国）有限公司 |
| 主分类号： | G01R19/00 | 分类号： | G01R19/00;G01R1/30 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人： | 傅远 |
| 地址： | 100102 *** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 电流 检测 方法 装置 | ||
1.一种电流检测方法，包括：
检测待测目标(105)两侧生成的磁场强度(B)，以生成分别表示所述待测目标(105)两侧的磁场强度(B)的第一检测信号(V1)和第二检测信号(V2)；
对所述第一检测信号(V1)和所述第二检测信号(V2)执行差分处理以生成差分信号(Vout)；以及
基于所述差分信号(Vout)确定流过所述待测目标(105)的电流。
2.根据权利要求1所述的电流检测方法，其中检测待测目标(105)两侧生成的磁场强度(B)包括：
检测所述待测目标(105)两侧的对称位置处的磁场强度(B)。
3.根据权利要求1所述的电流检测方法，其中执行差分处理包括：
放大所述第一检测信号(V1)减去所述第二检测信号(V2)的差，以生成所述差分信号(Vout)。
4.根据权利要求1所述的电流检测方法，其中执行所述差分处理包括：
放大所述第一检测信号(V1)减去所述第二检测信号(V2)的差，以生成正输出信号(Vout+)；
放大所述第二检测信号(V2)减去所述第一检测信号(V1)的差，以生成负输出信号(Vout-)；以及
基于所述正输出信号(Vout+)和所述负输出信号(Vout-)生成所述差分信号(Vout)。
5.一种电流检测装置，包括：
多个磁场感测部件(101，102)，被配置为检测待测目标(105)两侧生成的磁场强度(B)，以生成分别表示所述待测目标(105)两侧的磁场强度(B)的第一检测信号(V1)和第二检测信号(V2)；
信号处理部件(103)，被配置为对所述第一检测信号(V1)和所述第二检测信号(V2)执行差分处理以生成差分信号(Vout)；以及
运算部件(104)，被配置为基于所述差分信号(Vout)确定流过所述待测目标(105)的电流。
6.根据权利要求5所述的电流检测装置，所述多个磁场感测部件(101，102)被对称地设置于所述待测目标(105)的两侧。
7.根据权利要求5所述的电流检测装置，所述信号处理部件(103)为差分放大电路，所述差分放大电路包括：
仪表放大器(AMP)，被配置为放大所述第一检测信号(V1)减去所述第二检测信号(V2)的差，以生成所述差分信号(Vout)。
8.根据权利要求7所述的电流检测装置，所述差分放大电路还包括：
第一电阻(R1)，耦合在所述仪表放大器(AMP)的两个增益引脚(RG+，RG-)之间，并且被配置为调节所述仪表放大器(AMP)的放大倍数。
9.根据权利要求5所述的电流检测装置，所述信号处理部件(103)包括：
第一仪表放大器(AMP1)，被配置为放大所述第一检测信号(V1)减去所述第二检测信号(V2)的差，以生成正输出信号(Vout+)；
第二仪表放大器(AMP2)，被配置为放大所述第二检测信号(V2)减去所述第一检测信号(V1)的差，以生成负输出信号(Vout-)。
10.根据权利要求9所述的电流检测装置，所述信号处理部件(103)还包括：
第一电阻(R1)，耦合在所述第一仪表放大器(AMP1)的两个增益引脚(RG+，RG-)之间，并且被配置为调节所述第一仪表放大器(AMP1)的放大倍数；
第二电阻(R2)，耦合在所述第二仪表放大器(AMP2)的两个增益引脚(RG+，RG-)之间，并且被配置为调节所述第二仪表放大器(AMP2)的放大倍数。
11.根据权利要求5所述的电流检测装置，所述多个磁场感测部件(101，102)为霍尔电路。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于施耐德电气（中国）有限公司，未经施耐德电气（中国）有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202010313758.6/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
