[发明专利]一种岩石样本的磨平抛光夹具及岩石样本制样方法

说明书

本发明涉及一种岩石样本的磨平抛光夹具及岩石样本制样方法，属于岩石样本制样技术领域，解决现有方法工作量大、工作时间长、工作效率低的问题。岩石样本的磨平抛光夹具包括：样本卡盘、上挡板和下挡板；样本卡盘可拆卸的固定在上挡板和下挡板之间；样本卡盘旋转对称，且沿周向均布多个卡槽；卡槽填充有热塑树脂。本发明的制样方法通过采用热塑树脂使得所有岩石样本的待研磨抛光面能够近似处于同一平面上，从而减少工作时时间和工作量，提高磨平抛光的工作效率。

技术领域

本发明涉及岩石样本制样技术领域，尤其涉及一种岩石样本的磨平抛光夹具及岩石样本制样方法。

背景技术

在对各种岩石或天然矿物进行组份、晶体微观结构和光学特性等物理性质进行测试时，需要将采集的岩石制作成长方形的薄片状岩石样本，结合相应的测试设备对岩石样本的长方形平面进行相应的测试，因此，岩石样本的平整程度和光滑程度直接关系到测试结果的准确性和可靠程度。

岩石样本的制样过程通常需要对岩石进行切割，将其切割成尺寸接近的片状，再对需要进行测试的平面进行进一步的磨平和抛光。

虽然岩石样本是片状，但实际是高度较小的长方体，由于岩石本身的不规则特性，现有的制样方法中，很难将岩石切割成相对规整的长方形片状，往往会切割成平行四边形或梯形等不规则四边形，且上下平面往往难以平行，导致厚度不均匀，其结果就是需要后续的磨平过程对岩石样本进行进一步的处理，使之形成长方形薄片，极大地增加了磨平抛光过程的工作量。

而现有的磨平过程中，通常采用粘结的方式来固定切片后的岩石样本，再对岩石样本进行磨平抛光，但是由于切割和粘结等原因，样本点的待研磨抛光面往往高度不一，且容易出现倾斜等情况，而磨平过程中往往磨掉0.5mm就需要20min以上，微小的厚度不均匀性也会造成磨平作业的大量额外负担，而且由于岩石样本的切割厚度浮动较大，当需要处理多个岩石样本时，只能逐个来进行磨平和抛光，效率十分低下。

发明内容

鉴于上述的分析，本发明旨在提供一种岩石样本的磨平抛光夹具及岩石样本制样方法，用以解决现有方法工作量大、工作时间长、工作效率低的问题。

本发明的目的主要是通过以下技术方案实现的：

本发明的一套技术方案中，一种岩石样本的磨平抛光夹具，岩石样本的磨平抛光夹具包括：样本卡盘、上挡板和下挡板；

样本卡盘可拆卸的固定在上挡板和下挡板之间；

样本卡盘旋转对称，且沿周向均布多个卡槽；

卡槽填充有热塑树脂。

本发明的一套技术方案中，卡槽的形状为四边外凸的矩形，且岩石样本在样本卡盘表面的投影能够完全落入对应卡槽在样本卡盘表面的投影内。

本发明的一套技术方案中，岩石样本的磨平抛光夹具还包括螺栓；

上挡板、下挡板和样本卡盘均设有通孔；

上挡板、下挡板和样本卡盘通过穿过上挡板、下挡板和样本卡盘各自的通孔的螺栓进行固定。

本发明的一套技术方案中，样本卡盘、上挡板和下挡板形状和大小均相同；

当上挡板、下挡板和样本卡盘在轴向上对齐时，上挡板、下挡板和样本卡盘各自的通孔也对齐。

本发明的一套技术方案中，上挡板的顶面设有螺栓帽沉槽，当螺栓穿过样本卡盘、上挡板和下挡板时，螺栓的螺栓帽会嵌入螺栓帽沉槽，且螺栓帽不会从上挡板的顶面凸出。

本发明的一套技术方案中，一种岩石样本制样方法，岩石样本制样方法使用本发明的上述技术方案中的岩石样本的磨平抛光夹具；

岩石样本制样方法的步骤包括：