[发明专利]一种对AMOLED屏下摄像屏进行外部光学补偿的方法及系统

说明书

本发明提供了一种对AMOLED屏下摄像屏进行外部光学补偿的方法及系统，该方法包括：拍照步骤、分割步骤、定位提取步骤、合成步骤、拍照提取步骤、处理步骤和补偿步骤。本发明的有益效果是：本发明针对特定的支持屏下摄像技术的OLED屏的特点给出Demura亮度成像及数据提取方案，本发明能够应用于屏下摄像AMOLED屏Demura工艺所需子像素级光学亮度数据，适用性强，可用于离线及在线Demura设备上，可进行多种屏下摄像AMOLED显示产品的Demura处理流程。

技术领域

本发明涉及计算机视觉检测和显示技术领域，尤其涉及一种对AMOLED屏下摄像屏进行外部光学补偿的方法及系统。

背景技术

外部光学补偿(又称作Demura技术)作为AMOLED生产的后端工艺步骤，对保证出厂产品质量，分析前段工艺不良，降低材料损耗，消除Mura缺陷和显示不均，大幅提升良率起着重要作用，成为模组段不可或缺的技术。目前AMOLED 2D平面显示产品的Demura技术已经成熟并已投入量产(见发明专利CN201710749894.8和CN201810274086.5)。

然而，智能终端产品形态越来越丰富，尤其是为了增加用户体验，主流手机产品充分利用AMOLED显示技术的优点，不断提高屏占比，终极目标就是实现完全的“全面屏”，将指纹识别及前置摄像模组都隐藏到显示屏下。特别是要隐藏前置摄像模组，其对应的显示区需要采用特殊工艺和像素排布，在显示时能达到和正常区基本一致的亮度和效果，而在前置摄像模组拍照时又基本可以当做是一块“透明屏”，具有极好的透光性，并且不对屏下摄像产生任何光学干涉。这一屏下摄像产品形态的变化对光学检测及外部光学补偿修复技术带来了新的挑战，现有技术无法直接运用。

发明内容

本发明提供了一种对AMOLED屏下摄像屏进行外部光学补偿的方法，包括：

步骤1，拍照步骤：导入一幅白色画面至AMOLED屏下摄像屏，通过成像装置对AMOLED屏下摄像屏进行拍照，得到原始图片；

步骤2，分割步骤：将原始图片的UDC区分割出来，并置所有UDC区对应的图片像素值为0，得到仅含NZ区有效像素的图片，将仅含NZ区有效像素的图片称为第一图片，NZ区为正常显示区，UDC区为屏下摄像区；

步骤3，定位提取步骤：将第一图片进行子像素定位和亮度提取，获得NZ区真实的和UDC区虚拟的子像素亮度数据L_color,gray(m,n)；

步骤4，合成步骤：切换R、G、B不同颜色的低、中、高若干不同灰阶信号，并依次刷新画面并同步拍照，然后分割区域和进行子像素定位和亮度提取，然后合成与显示屏物理分辨率对应的全部子像素亮度数据集M(I，J)；

步骤5，拍照提取步骤：将原始图片的UDC区和NZ区的亮度数据进行对比，获得亮度比值τ，依照亮度比值τ等比例设置成像装置曝光时间，重新对焦并确定UDC区清晰成像，然后拍照，获得NZ区清晰子像素图片，在此同一灰阶和颜色画面下，提取UDC区在该成像条件下各子像素亮度数据

步骤6，处理步骤：切换R、G、B不同颜色的低、中、高若干不同灰阶信号，同步获取亮度比值和调整曝光时间，并依次重复步骤5拍照提取步骤，刷新画面并拍照，分别获得UDC区在这些不同条件下的亮度数据并合成数据集Lu_color，gray(I，J)；

步骤7，补偿步骤：通过M(I，J)和Lu_color，gray(I，J)、或者通过M(I，J)和对AMOLED屏下摄像屏进行外部光学补偿。

作为本发明的进一步改进，在所述步骤2，分割步骤中，利用阈值法将原始图片的UDC区分割出来。