[发明专利]光学膜的缺陷判断方法及缺陷判断系统

权利要求书

1.一种光学膜之缺陷判断方法，其特征在于，包括：

获取一光学膜的侧面的一图像，该图像包含一光学膜图像区及一背景区；

取得该光学膜图像区的一边界基准线，该图像中位于该边界基准线上方的面积为一基准背景面积；

取得该基准背景面积相对于该背景区的一背景区面积的一面积差值；以及

依据该面积差值，判断该光学膜的一缺陷的类型。

2.如权利要求1所述的缺陷判断方法，其特征在于，在判断该缺陷的类型的步骤中，该缺陷判断方法包括：

判断该面积差值是否大于一第一面积预设值；

当该面积差值大于该第一面积预设值，判断该缺陷位于该边界基准线上方。

3.如权利要求2所述的缺陷判断方法，其特征在于，判断该缺陷位于该边界基准线上方的步骤包括：

判断该面积差值是否介于该第一面积预设值与一第二面积预设值之间；

当该面积差值介于该第一面积预设值与该第二面积预设值之间，判断该缺陷的一第一方向尺寸是否小于一第一尺寸预设值及该缺陷的一第二方向尺寸是否小于一第二尺寸预设值；以及

当该缺陷之该第一方向尺寸小于该第一尺寸预设值及该缺陷的该第二方向尺寸小于该第二尺寸预设值，判定该缺陷属于一毛屑型缺陷。

4.如权利要求2所述的缺陷判断方法，其特征在于，判断该缺陷位于该边界基准线上方的步骤包括：

判断该面积差值是否大于一第二面积预设值；

当该面积差值大于该第二面积预设值，判断该缺陷的一第一方向尺寸是否等于或大于一第一尺寸预设值及该缺陷的一第二方向尺寸是否等于或大于一第二尺寸预设值；

当该缺陷的该第一方向尺寸等于或大于该第一尺寸预设值及该缺陷的该第二方向尺寸等于或大于该第二尺寸预设值，判定该缺陷属于一凸膜型缺陷。

5.如权利要求1所述的缺陷判断方法，其特征在于，在判断该缺陷的类型的步骤中，该缺陷判断方法包括：

判断该面积差值是否大于一第一面积预设值；以及

当该面积差值不大于该第一面积预设值，判断该缺陷位于该光学膜图像区。

6.如权利要求2或5所述的缺陷判断方法，其特征在于，该第一面积预设值为面积尺寸值或像素数量。

7.如权利要求5所述的缺陷判断方法，其特征在于，在判断该缺陷位于该光学膜图像区的步骤包括：

取得该光学膜图像区的该缺陷的一缺陷区平均灰阶值；

判断该缺陷区平均灰阶值是否介于一灰阶下限值与一灰阶上限值之间；以及

当该缺陷区平均灰阶值介于该灰阶下限值与该灰阶上限值之间，判定该缺陷属于一脏污型缺陷。

8.如权利要求5所述的缺陷判断方法，其特征在于，在判断该缺陷位于该光学膜图像区的步骤包括：

取得该光学膜图像区的该缺陷的一缺陷区平均灰阶值；

取得该光学膜图像区的一图像区平均灰阶值；

判断该缺陷区平均灰阶值是否大于该图像区平均灰阶值；以及

当该缺陷区平均灰阶值大于该图像区平均灰阶值，判定该缺陷属于一气泡型缺陷。

9.如权利要求5所述的缺陷判断方法，其特征在于，在判断该缺陷区位于该光学膜图像区的步骤包括：

取得该光学膜图像区的该缺陷的一缺陷区平均灰阶值；

判断该缺陷区平均灰阶值是否小于一灰阶下限值；

判断该边界基准线与该缺陷区的中心点之间的距离是否大于一预设距离值；

当该距离大于该预设距离值，判定该缺陷属于一激光起始点型缺陷。