[发明专利]一种控制混合IMS/MS系统中的MASS滤波器的方法在审
申请号: | 202010293668.5 | 申请日: | 2020-04-15 |
公开(公告)号: | CN111830114A | 公开(公告)日: | 2020-10-27 |
发明(设计)人: | 奥利弗·拉瑟;马库斯·吕贝克 | 申请(专利权)人: | 布鲁克道尔顿有限公司 |
主分类号: | G01N27/62 | 分类号: | G01N27/62;G01N33/68;H01J49/00 |
代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人: | 张娜;顾丽波 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 控制 混合 ims ms 系统 中的 mass 滤波器 方法 | ||
1.一种使用混合质谱系统获取复杂物质混合物中的物质的碎片质谱的方法,所述混合质谱系统包括离子源、离子迁移率分离器、质量过滤器、离子碎裂室和质量分析器,所述方法包括以下步骤:
使用所述离子迁移率分离器根据迁移率按照时间分离离子;
使用所述质量过滤器根据质量顺序地离析预定组的分离出的离子物种;
在所述碎裂室中碎裂离析出的离子物种,并且使用所述质量分析器获取碎片质谱,
其中,针对所述预定组的离子物种中的至少一个离子物种,所述质量过滤器在所述离析期间的停留时间适应于所述至少一个离子物种在所述离子迁移率分离器中分离之后的离子迁移率信号的持续时间。
2.一种使用混合质谱系统获取复杂物质混合物中的物质的碎片质谱的方法,所述混合质谱系统包括离子源、离子迁移率分离器、质量过滤器、离子碎裂室和质量分析器,
其中,在第一测量周期中,测量离子物种的离子迁移率扫描时间与离子质量的质量-迁移率图,从所述质量-迁移率图中选择至少一组时间上分离的虚拟窗口,所述虚拟窗口包含具有不同质量和不同迁移率扫描时间的离子物种,以及
其中,在第二测量周期中,所述至少一组时间上分离的虚拟窗口的离子物种中的每一个离子物种被质量和停留时间受控的所述质量过滤器顺序地离析、在所述碎裂室中被碎裂,且被所述质量分析器测量为碎裂质谱,
其特征在于,所述窗口的时间长度以及因此所述质量过滤器的停留时间适应于所述质量-迁移率图中的离子迁移率信号的持续时间。
3.根据权利要求2所述的方法,其中,所述窗口的时间长度以及因此所述质量过滤器的停留时间实质上等于所述质量-迁移率图中的离子迁移率信号的持续时间。
4.根据权利要求3所述的方法,其中,所述窗口的时间长度以及因此所述质量过滤器的停留时间等于所述质量分析器的一或多个扫描持续时间,且所述停留时间与所述质量分析器的扫描同步。
5.根据权利要求2所述的方法,其中,所述质量分析器的扫描持续时间等于100微秒,并且所述窗口的时间长度以及因此所述质量过滤器的停留时间等于100微秒的倍数。
6.根据权利要求2所述的方法,其中,所述窗的时间长度以及因此所述质量过滤器的停留时间比所述质量-迁移率图中的所述离子迁移率信号的持续时间长所述质量分析器的至少一到四个扫描持续时间。
7.根据权利要求2所述的方法,其中,所述质量分析器的扫描持续时间等于100微秒,并且所述窗口的时间长度以及因此所述质量过滤器的停留时间在所述质量-迁移率图中的离子迁移率信号的前面比所述质量-迁移率图中的离子迁移率信号的持续时间长200微妙,并在所述质量-迁移率图中的离子迁移率信号的结尾比所述质量-迁移率图中的离子迁移率信号的持续时间长200微秒。
8.根据权利要求2所述的方法,其中,选择两组或更多组窗口,且所选的窗口组明显不同且不含有所述质量-迁移率的相同离子物种。
9.根据权利要求2所述的方法,其中,来自所述质量-迁移率图的弱离子信号存在于若干组窗口中,且其中,所述弱离子信号的碎片质谱被组合以增加所述弱离子信号的质量。
10.根据权利要求2所述的方法,其中,当预定时间间隔结束时、当获取到预定数量的碎片质谱时、或当当前质量-迁移率图中的所有离子物种被破碎并测量为碎片质谱时,测量第二测量循环的第二质量-迁移率图。
11.根据权利要求2所述的方法,其中,第二质量-迁移率图的迁移率范围不同于第一质量-迁移率图的迁移率范围。
12.根据权利要求11所述的方法,其中,所述第二质量-迁移率图的离子累积持续时间不同于所述第一质量-迁移率图的离子累积持续时间。
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