[发明专利]可靠性强化试验定量评估方法、装置及存储介质

说明书

本申请涉及一种可靠性强化试验定量评估方法、装置及存储介质。其中，可靠性强化试验定量评估方法，包括步骤：确定待测电子产品的可靠性强化试验的应力类型及试验阶段，并获取可靠性强化试验的故障处理策略；故障处理策略包括故障处理方式；对待测电子产品进行可靠性强化试验，获取故障数据；基于故障处理方式和应力类型及试验阶段，采用相应的加速模型对故障数据进行外推，得到正常应力水平下的故障数据；对正常应力水平下的故障数据进行可靠性评估，得到待测电子产品的可靠性指标。本申请实现了可靠性试验数据的定量评估。

技术领域

本申请涉及电子产品测试技术领域，特别是涉及一种可靠性强化试验定量评估方法、装置及存储介质。

背景技术

在现代武器装备的研制过程中，不仅对武器装备的性能指标提出了更高的要求，同时也特别强调武器装备需要具备更高的可靠性水平。然而产品的可靠性水平是不断增长、螺旋上升的过程。

可靠性增长试验在保障武器装备可靠性水平的提升中起到了重要作用，通过可靠性增长试验可以暴露产品设计缺陷、采取改进措施，达到提高产品可靠性水平的目的，同时可以对产品的可靠性指标进行定量评估。而可靠性强化试验作为一种激发性试验，突破了传统模拟试验的思路，通过人为施加高试验应力的方法，加速激发产品在设计、工艺、元器件选用及制造等方面的薄弱环节，采取改进措施以达到在较短时间内大幅提高产品可靠性水平的目的。

在实现过程中，发明人发现传统技术中至少存在如下问题：目前的可靠性强化试验无法对产品的可靠性水平进行定量评估。

发明内容

基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种能够对产品进行定量评估的可靠性强化试验定量评估方法、装置及存储介质。

为了实现上述目的，一方面，本发明实施例提供了一种可靠性强化试验定量评估方法，包括步骤：

确定待测电子产品的可靠性强化试验的应力类型及试验阶段，并获取可靠性强化试验的故障处理策略；故障处理策略包括故障处理方式；

对待测电子产品进行可靠性强化试验，获取故障数据；

基于故障处理方式和应力类型及试验阶段，采用相应的加速模型对故障数据进行外推，得到正常应力水平下的故障数据；

对正常应力水平下的故障数据进行可靠性评估，得到待测电子产品的可靠性指标。

在其中一个实施例中，确定待测电子产品的可靠性强化试验的应力类型及试验阶段的步骤，包括：

对待测电子产品进行敏感应力分析，确定可靠性强化试验的各应力类型及试验阶段。

在其中一个实施例中，可靠性指标包括MTBF值；

对正常应力水平下的故障数据进行可靠性评估，得到待测电子产品的可靠性指标的步骤，包括：

采用可靠性增长评估模型，对正常应力水平下的故障数据进行评估，得到待测电子产品的MTBF值

在其中一个实施例中，故障数据包括失效数据；加速模型包括温度应力加速模型、振动应力加速模型和温度循环加速模型。

在其中一个实施例中，故障处理方式包括事后纠正；

基于故障处理方式和应力类型及试验阶段，采用相应的加速模型对故障数据进行外推，得到正常应力水平下的故障数据的步骤，包括：

基于温度应力加速模型处理各温度应力台阶下的失效数据，并对处理后的失效数据依次进行失效分布函数和取似然函数处理，得到待测电子产品在各温度应力台阶下的加速因子；

基于振动应力加速模型处理各振动应力台阶下的失效数据，并对处理后的失效数据依次进行失效分布函数和取似然函数处理，得到待测电子产品在各振动应力台阶下的加速因子；