[发明专利]分子结合位点检测方法、装置、电子设备及存储介质

权利要求书

1.一种分子结合位点检测方法，其特征在于，所述方法包括：

获取待检测的目标分子中至少一个位点的三维坐标，所述目标分子为待检测结合位点的化学分子；

确定所述至少一个位点分别对应的至少一个第一目标点和至少一个第二目标点，其中，任一个位点的第一目标点为以所述位点为球心、以目标长度为半径的球形空间内所包括的所有位点的中心点，任一个位点的第二目标点为以原点为起点、指向所述位点的向量的正向延长线与所述球形空间的外表面的交点；

基于所述至少一个位点、所述至少一个第一目标点以及所述至少一个第二目标点的三维坐标，提取所述至少一个位点的三维坐标中具有旋转不变特性的位置特征，所述位置特征用于表征所述至少一个位点在所述目标分子中所处的位置信息；

调用位点检测模型对提取到的所述位置特征进行预测处理，以得到所述至少一个位点的至少一个预测概率，其中，一个预测概率用于表征一个位点属于结合位点的可能性；

基于所述至少一个预测概率，确定所述目标分子中所述至少一个位点内的结合位点。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述至少一个位点、所述至少一个第一目标点以及所述至少一个第二目标点的三维坐标，提取所述至少一个位点的三维坐标中具有旋转不变特性的位置特征包括：

对于所述至少一个位点中任一位点，基于所述位点、所述位点对应的第一目标点以及所述位点对应的第二目标点的三维坐标，提取所述位点的三维坐标中具有旋转不变特性的位置特征。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于所述位点、所述位点对应的第一目标点以及所述位点对应的第二目标点的三维坐标，提取所述位点的三维坐标中具有旋转不变特性的位置特征包括：

基于所述位点、所述第一目标点以及所述第二目标点的三维坐标，构建所述位点的全局位置特征，所述全局位置特征用于表征所述位点在目标分子内所处的空间位置信息；

基于所述位点、所述第一目标点、所述第二目标点以及所述位点的至少一个邻域点的三维坐标，构建所述位点与所述至少一个邻域点之间的至少一个局部位置特征，一个局部位置特征用于表征所述位点与一个邻域点之间的相对位置信息；

基于所述全局位置特征和所述至少一个局部位置特征，获取所述位点的三维坐标中具有旋转不变特性的位置特征。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述全局位置特征包括：所述位点的模长、所述位点与所述第一目标点之间的距离、所述第一目标点与所述第二目标点之间的距离、第一夹角的余弦值或者第二夹角的余弦值中至少一项，其中，所述第一夹角为第一线段与第二线段之间所构成的夹角，所述第二夹角为所述第二线段与第三线段之间所构成的夹角，所述第一线段为所述位点与所述第一目标点之间所构成的线段，所述第二线段为所述第一目标点与所述第二目标点之间所构成的线段，所述第三线段为所述位点与所述第二目标点之间所构成的线段。

5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，对于所述至少一个邻域点中任一邻域点，所述位点与所述邻域点之间的局部位置特征包括：所述邻域点与所述位点之间的距离、所述邻域点与所述第一目标点之间的距离、所述邻域点与所述第二目标点之间的距离、第三夹角的余弦值、第四夹角的余弦值或者第五夹角的余弦值中至少一项，其中，所述第三夹角为第四线段与第五线段之间所构成的夹角，所述第四夹角为所述第五线段与第六线段之间所构成的夹角，所述第五夹角为所述第六线段与所述第四线段之间所构成的夹角，所述第四线段为所述邻域点与所述位点之间所构成的线段，所述第五线段为所述邻域点与所述第一目标点之间所构成的线段，所述第六线段为所述邻域点与所述第二目标点之间所构成的线段。